
【计】 basic failure rate
basic; essence
【计】 failure rate
在可靠性工程领域,"基本失效率"(Basic Failure Rate)是一个核心概念,用于描述产品在特定条件下的固有失效特性。以下是其中英文对照的详细解释:
中文解释
基本失效率指产品在规定的标准试验条件下(通常为实验室理想环境)的失效率。它排除了实际使用中环境应力、操作方式等外部因素的影响,反映产品本身的设计与制造质量水平,是可靠性预计的基础参数。其数学表达为:
$$ lambda_b = frac{n}{T} $$
其中 $lambda_b$ 为基本失效率,$n$ 为失效数,$T$ 为总试验时间。
英文对照
Basic Failure Rate (BFR) refers to the failure rate of a product under specified standard test conditions (typically ideal laboratory environments). It excludes external factors such as operational stresses or environmental variations in field use, representing the inherent reliability determined by design and manufacturing quality.
在航空航天、核电等高可靠性领域,基本失效率数据支撑故障模式影响分析(FMEA)和可靠性分配。例如卫星元器件需依据GJB/Z 299C标准中的BFR数据选型。
权威参考来源:
基本失效率(Basic Failure Rate, BFR)是衡量电子元件在特定基准环境下失效概率的核心指标,其定义与作用如下:
基本失效率指电子元件在常规环境(如标准温度、湿度、工作负载等)下,通过长期统计实验或模型推导得出的单位时间失效概率。它是其他复杂环境下失效率计算的基准值,通常用于可靠性工程中预测元件寿命或系统故障风险。
根据定义,基本失效率的公式为: $$ lambda(t) = lim_{Delta t to 0} frac{P(t < T leq t+Delta t | T > t)}{Delta t} $$ 其中 $T$ 为元件失效时间,$P$ 表示条件概率。
注:实际工程中需注意,BFR不适用于极端环境(如高温、高辐射),此类场景需通过修正模型(如Arrhenius方程)调整参数。
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