
【化】 differential test
【計】 differential calculus
【經】 differential
check up; examine; inspect; proof; prove
【計】 CH; checkout; V; verify; verify check; verifying
【化】 checking; examine
【醫】 analysis; coroner's inquest; docimasia
【經】 inspection; monitoring; proof; test; verification; verify
dharma; divisor; follow; law; standard
【醫】 method
【經】 law
微分檢驗法(Differential Test)是微積分中用于判定函數極值性質的核心工具,包含第一導數檢驗法和第二導數檢驗法兩類方法。其核心是通過分析導數符號變化或二階導數值,判斷臨界點處函數的局部極值類型。
定義:若函數( f(x) )在臨界點( c )處連續且在鄰域内可導,當導數符號從左到右跨越臨界點時發生以下變化:
應用場景:適用于非光滑點或二階導數不存在的情況,例如分段函數或絕對值函數。
定義:若函數( f(x) )在臨界點( c )處二階可導,則通過二階導數值判斷:
限制條件:當二階導數為零或不存在時,需改用第一導數檢驗法或高階導數分析。
該方法在工程優化、經濟學模型及機器學習損失函數分析中具有廣泛實踐意義,其數學嚴格性奠定了極值理論的基石。
微分檢驗法(Differential Test)是微積分中利用導數分析函數局部極值、單調性等性質的重要方法,主要包括一階導數檢驗法和二階導數檢驗法。以下是具體解釋:
作用:判斷臨界點(導數為零或不存在的點)是否為極大值、極小值或鞍點。
步驟:
示例:
對于 ( f(x) = x ),臨界點 ( x=0 )。
作用:快速判斷臨界點的極值類型(需函數二階可導)。
步驟:
示例:
對于 ( f(x) = x ),臨界點 ( x=0 ),二階導數 ( f''(0)=2 > 0 ) → ( x=0 ) 是極小值。
若需進一步了解具體證明或拓展應用,可參考微積分教材中“導數應用”章節。
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