測試座英文解釋翻譯、測試座的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 test bench

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

pedestal; place; seat
【電】 mount

在漢英詞典框架下，"測試座"對應的标準英文翻譯為"test socket"，指電子工程領域中用于集成電路（IC）或半導體元件測試的專用連接裝置。該設備在電子制造測試流程中承擔以下核心功能：

物理連接介質
作為被測器件(DUT)與測試機之間的機械接口，通過精密探針陣列實現芯片引腳與測試平台的電氣連接。其接觸阻抗通常控制在50mΩ以下，符合JEDEC JESD22-B111标準要求的測試穩定性。
信號傳輸中樞
内置阻抗匹配電路可處理最高40GHz的高頻信號，确保測試過程中信號完整性。國際半導體技術路線圖(ITRS)明确指出測試座需滿足5G/6G通信芯片的測試需求。
環境模拟組件
高端測試座集成溫度控制模塊，支持-55℃至+150℃的極端溫度測試，該參數參考MIL-STD-883 Method 1012軍用标準。部分型號配備可編程電源，能模拟實際工作電壓波動場景。

在雙語應用場景中，中文表述側重物理結構特性（"座"的支撐/固定功能），而英文術語"socket"更強調其作為電氣接口的核心功能。美國電子工業協會(EIA)技術文檔顯示，現代測試座的設計壽命已達50萬次插拔周期，接觸材料普遍采用铍銅合金鍍金工藝。

測試座（Test Socket）是電子測試領域中用于連接被測器件（如芯片、模塊）與測試設備的專用工具，尤其在集成電路（IC）測試中應用廣泛。以下是其詳細解釋：

測試座是一種連接裝置，通常由底座、探針/插頭、壓蓋等部件組成，主要功能是建立穩定的電氣連接，使芯片或模塊能夠與測試儀器（如示波器、信號發生器）高效交互。它避免了直接焊接芯片的繁瑣操作，保護器件免受物理損傷，同時提升測試效率。

按應用可分為：

選型需考慮封裝類型、引腳數、頻率範圍等因素，并優先選擇探針可更換的設計以降低維護成本。

如需進一步了解具體測試座的參數或測試流程，可參考來源網頁（如、3、6、12）中的技術文檔。