
【电】 test bench
test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test
pedestal; place; seat
【电】 mount
在汉英词典框架下,"测试座"对应的标准英文翻译为"test socket",指电子工程领域中用于集成电路(IC)或半导体元件测试的专用连接装置。该设备在电子制造测试流程中承担以下核心功能:
物理连接介质
作为被测器件(DUT)与测试机之间的机械接口,通过精密探针阵列实现芯片引脚与测试平台的电气连接。其接触阻抗通常控制在50mΩ以下,符合JEDEC JESD22-B111标准要求的测试稳定性。
信号传输中枢
内置阻抗匹配电路可处理最高40GHz的高频信号,确保测试过程中信号完整性。国际半导体技术路线图(ITRS)明确指出测试座需满足5G/6G通信芯片的测试需求。
环境模拟组件
高端测试座集成温度控制模块,支持-55℃至+150℃的极端温度测试,该参数参考MIL-STD-883 Method 1012军用标准。部分型号配备可编程电源,能模拟实际工作电压波动场景。
在双语应用场景中,中文表述侧重物理结构特性("座"的支撑/固定功能),而英文术语"socket"更强调其作为电气接口的核心功能。美国电子工业协会(EIA)技术文档显示,现代测试座的设计寿命已达50万次插拔周期,接触材料普遍采用铍铜合金镀金工艺。
测试座(Test Socket)是电子测试领域中用于连接被测器件(如芯片、模块)与测试设备的专用工具,尤其在集成电路(IC)测试中应用广泛。以下是其详细解释:
测试座是一种连接装置,通常由底座、探针/插头、压盖等部件组成,主要功能是建立稳定的电气连接,使芯片或模块能够与测试仪器(如示波器、信号发生器)高效交互。它避免了直接焊接芯片的繁琐操作,保护器件免受物理损伤,同时提升测试效率。
按应用可分为:
选型需考虑封装类型、引脚数、频率范围等因素,并优先选择探针可更换的设计以降低维护成本。
如需进一步了解具体测试座的参数或测试流程,可参考来源网页(如、3、6、12)中的技术文档。
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