射頻探針英文解釋翻譯、射頻探針的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 r-f probe

【計】 radio frequency; RF
【醫】 radio frequency

bougie; probe; stylet
【計】 needle
【化】 probe
【醫】 probe

射頻探針（Radio Frequency Probe）是電子工程與測試測量領域的關鍵工具，專用于在射頻（RF）及微波頻率範圍内進行信號的注入、提取或測量。其核心功能是在不顯著幹擾被測電路或系統工作狀态的前提下，建立測試設備（如網絡分析儀、頻譜儀）與待測點之間的可靠連接。

術語詳解：

射頻（Radio Frequency, RF）：指頻率範圍在3 kHz至300 GHz之間的電磁波頻譜，涵蓋無線通信（如5G、Wi-Fi）、雷達、衛星通信等應用領域。該頻段信號具有高頻、短波長特性，對測試連接的阻抗匹配和信號完整性要求極高。
探針（Probe）：在電子測試中，指一種物理接口裝置，用于接觸電路闆上的測試點（如焊盤、引腳）或集成電路（IC）的焊球/引腳，實現信號的傳導。探針需具備精确的幾何結構、穩定的電氣接觸和最小的信號損耗。

核心功能與技術特性：

信號耦合：将測試儀器産生的高頻信號精準注入待測器件（DUT）的輸入端，或從DUT的輸出端/中間節點提取高頻信號供儀器分析。
阻抗匹配：設計精密的探針尖端和傳輸線結構，确保其特性阻抗（通常為50歐姆或75歐姆）與測試系統及被測電路匹配，最大限度減少信號反射（回波損耗），保證測量精度。例如，在S參數測量中，良好的阻抗匹配對準确獲取S11（輸入反射系數）、S21（傳輸系數）至關重要。
帶寬與頻率響應：探針需在其标稱工作頻率範圍内（如DC至40 GHz）保持平坦的頻率響應和低插入損耗，确保測量結果真實反映被測信號特性。
物理接觸與最小幹擾：探針尖端采用特殊材料（如铍銅合金）和結構（如微彈簧針、共面設計），實現可靠、可重複的電氣接觸，同時對被測電路的負載效應（如引入的電容、電感）極小，避免影響電路正常工作狀态。
校準與去嵌入：為消除探針本身及連接電纜引入的誤差，需使用精密校準件（如阻抗标準基闆）進行校準，并通過去嵌入（De-embedding）技術在數據處理中補償探針的寄生效應。

典型應用場景：

晶圓級測試（Wafer Probing）：在半導體制造中，使用射頻探針台直接接觸晶圓上的芯片焊盤，進行射頻IC（如功率放大器、低噪聲放大器、射頻開關）的S參數、增益、噪聲系數等關鍵參數測試，篩選合格芯片。
印刷電路闆（PCB）測試與調試：在研發或生産階段，使用手持式或固定式射頻探針接觸PCB上的微帶線、帶狀線或元件引腳，進行信號完整性分析、故障排查、阻抗測量（TDR）或頻譜分析。
高速數字信號測試：隨着數字信號速率進入GHz範圍（如PCIe, DDR, USB），其邊沿包含豐富的高頻分量，射頻探針用于精确捕獲和分析這些高速信號的時域（眼圖、抖動）和頻域特性。
近場電磁兼容（EMC）預測試：使用特殊設計的近場探頭（一種射頻探針）掃描電路闆或設備表面，定位潛在的電磁幹擾（EMI）輻射源，輔助EMC設計優化。

權威定義參考來源：

IEEE Standard Dictionary of Electrical and Electronics Terms (IEEE Std 100)：作為電氣電子工程領域的權威标準詞典，其對射頻相關術語（如Radio Frequency, Probe, Impedance Matching）的定義被全球廣泛采納。
Keysight Technologies (原安捷倫) / Rohde & Schwarz 測試測量手冊：全球領先的測試儀器制造商在其産品技術文檔和應用指南中，對射頻探針的工作原理、選型、校準及使用方法有詳盡描述。
《Microwave Engineering》 by David M. Pozar：經典微波工程教材，系統闡述了射頻/微波系統原理，包含測試與測量技術章節，涉及探針接口理論。

射頻探針（RF Probe）是一種用于測量射頻信號參數的精密測試工具，主要用于高頻電路、半導體器件等領域的信號采集與分析。以下是其核心要點：

射頻探針通過直接接觸被測物體（如芯片、電路闆），将射頻信號（頻率範圍通常為幾百千赫茲至幾十吉赫茲）傳輸至測量儀器，以獲取頻率、幅度、相位等關鍵參數。其核心功能是實現信號的高保真傳輸，減少測試過程中的信號衰減和失真。

按用途分類：
- 固定式探針：用于PCB自動化測試，搭配機械臂使用。
- 晶圓探針：專用于半導體晶圓測試，精度和頻率要求高。
- Pogo pin探針：内置彈簧結構，提供彈力接觸，適合反複測試。
按導體結構分類：
- GS（接地-信號）、GSG（接地-信號-接地）、GSSG（接地-信號-信號-接地），其中GSG最常見，兼容共面波導設計。

射頻探針技術起源于1980年，第一代産品覆蓋18 GHz以下頻段，采用共面陶瓷饋電。1983年高頻晶圓探針的發明解決了早期測試中電路易損的問題，推動了半導體行業的快速發展。

如需更完整的分類或技術細節，可參考、4、6等來源。