射频探针英文解释翻译、射频探针的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 r-f probe

分词翻译：

射频的英语翻译：

【计】 radio frequency; RF
【医】 radio frequency

探针的英语翻译：

bougie; probe; stylet
【计】 needle
【化】 probe
【医】 probe

专业解析

射频探针（Radio Frequency Probe）是电子工程与测试测量领域的关键工具，专用于在射频（RF）及微波频率范围内进行信号的注入、提取或测量。其核心功能是在不显著干扰被测电路或系统工作状态的前提下，建立测试设备（如网络分析仪、频谱仪）与待测点之间的可靠连接。

术语详解：

1. 射频（Radio Frequency, RF）：指频率范围在3 kHz至300 GHz之间的电磁波频谱，涵盖无线通信（如5G、Wi-Fi）、雷达、卫星通信等应用领域。该频段信号具有高频、短波长特性，对测试连接的阻抗匹配和信号完整性要求极高。
2. 探针（Probe）：在电子测试中，指一种物理接口装置，用于接触电路板上的测试点（如焊盘、引脚）或集成电路（IC）的焊球/引脚，实现信号的传导。探针需具备精确的几何结构、稳定的电气接触和最小的信号损耗。

核心功能与技术特性：

• 信号耦合：将测试仪器产生的高频信号精准注入待测器件（DUT）的输入端，或从DUT的输出端/中间节点提取高频信号供仪器分析。
• 阻抗匹配：设计精密的探针尖端和传输线结构，确保其特性阻抗（通常为50欧姆或75欧姆）与测试系统及被测电路匹配，最大限度减少信号反射（回波损耗），保证测量精度。例如，在S参数测量中，良好的阻抗匹配对准确获取S11（输入反射系数）、S21（传输系数）至关重要。
• 带宽与频率响应：探针需在其标称工作频率范围内（如DC至40 GHz）保持平坦的频率响应和低插入损耗，确保测量结果真实反映被测信号特性。
• 物理接触与最小干扰：探针尖端采用特殊材料（如铍铜合金）和结构（如微弹簧针、共面设计），实现可靠、可重复的电气接触，同时对被测电路的负载效应（如引入的电容、电感）极小，避免影响电路正常工作状态。
• 校准与去嵌入：为消除探针本身及连接电缆引入的误差，需使用精密校准件（如阻抗标准基板）进行校准，并通过去嵌入（De-embedding）技术在数据处理中补偿探针的寄生效应。

典型应用场景：

1. 晶圆级测试（Wafer Probing）：在半导体制造中，使用射频探针台直接接触晶圆上的芯片焊盘，进行射频IC（如功率放大器、低噪声放大器、射频开关）的S参数、增益、噪声系数等关键参数测试，筛选合格芯片。
2. 印刷电路板（PCB）测试与调试：在研发或生产阶段，使用手持式或固定式射频探针接触PCB上的微带线、带状线或元件引脚，进行信号完整性分析、故障排查、阻抗测量（TDR）或频谱分析。
3. 高速数字信号测试：随着数字信号速率进入GHz范围（如PCIe, DDR, USB），其边沿包含丰富的高频分量，射频探针用于精确捕获和分析这些高速信号的时域（眼图、抖动）和频域特性。
4. 近场电磁兼容（EMC）预测试：使用特殊设计的近场探头（一种射频探针）扫描电路板或设备表面，定位潜在的电磁干扰（EMI）辐射源，辅助EMC设计优化。

权威定义参考来源：

• IEEE Standard Dictionary of Electrical and Electronics Terms (IEEE Std 100)：作为电气电子工程领域的权威标准词典，其对射频相关术语（如Radio Frequency, Probe, Impedance Matching）的定义被全球广泛采纳。
• Keysight Technologies (原安捷伦) / Rohde & Schwarz 测试测量手册：全球领先的测试仪器制造商在其产品技术文档和应用指南中，对射频探针的工作原理、选型、校准及使用方法有详尽描述。
• 《Microwave Engineering》 by David M. Pozar：经典微波工程教材，系统阐述了射频/微波系统原理，包含测试与测量技术章节，涉及探针接口理论。

网络扩展解释

射频探针（RF Probe）是一种用于测量射频信号参数的精密测试工具，主要用于高频电路、半导体器件等领域的信号采集与分析。以下是其核心要点：

1.定义与核心功能

射频探针通过直接接触被测物体（如芯片、电路板），将射频信号（频率范围通常为几百千赫兹至几十吉赫兹）传输至测量仪器，以获取频率、幅度、相位等关键参数。其核心功能是实现信号的高保真传输，减少测试过程中的信号衰减和失真。

2.主要特点

• 高精度：能准确捕捉高频信号的细微变化。
• 快速响应：适用于动态信号测量，缩短测试时间。
• 稳定性强：抗干扰能力优异，确保长期测试的一致性。

3.种类与结构类型

• 按用途分类：
  • 固定式探针：用于PCB自动化测试，搭配机械臂使用。
  • 晶圆探针：专用于半导体晶圆测试，精度和频率要求高。
  • Pogo pin探针：内置弹簧结构，提供弹力接触，适合反复测试。
• 按导体结构分类：
  • GS（接地-信号）、GSG（接地-信号-接地）、GSSG（接地-信号-信号-接地），其中GSG最常见，兼容共面波导设计。

4.应用领域

• 射频电路与PCB测试：验证电路板信号完整性。
• 半导体制造：晶圆级参数提取，缩短研发周期。
• 无线通信设备：包括5G基站、手机天线、车载雷达等。

5.历史发展

射频探针技术起源于1980年，第一代产品覆盖18 GHz以下频段，采用共面陶瓷馈电。1983年高频晶圆探针的发明解决了早期测试中电路易损的问题，推动了半导体行业的快速发展。

如需更完整的分类或技术细节，可参考、4、6等来源。

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