
【電】 grid locking
grid
【化】 grid
closedown
【計】 degating; latch-up
【醫】 atresia; atreto-; clausura; imperforation
栅極閉鎖(Latch-up)是半導體器件中由寄生雙極晶體管結構引發的異常導通現象,屬于CMOS集成電路的典型失效機制。該現象發生時,寄生PNPN結構形成正反饋回路,導緻電源與地之間出現低阻抗通路,可能引發器件過熱或永久性損壞。
作用機制:
防護技術:
國際電子器件會議(IEDM)曆年論文集收錄了多個工藝改進方案,IEEE Xplore數據庫可查得相關失效分析案例。具體設計規範可參考JEDEC标準JESD78(最新版為2021年修訂版)。
“栅極閉鎖”是由“栅極”和“閉鎖”組合而成的術語,需分别解釋其含義後綜合理解:
栅極是電子管或半導體器件中的關鍵電極:
閉鎖在不同領域有不同含義:
結合兩者,“栅極閉鎖”可能指:
現有搜索結果未明确提及該術語的專業定義,建議結合具體應用領域(如半導體、電力電子)進一步核實。
坳擺線不遵守超位等溫轉變圖讀數接近時間二次矩防擴散分路校正符號變量負調節涵義紅薯黃骨髓黃鐵礦架空電纜線路加拿大白楊将來應享有的年金教會法學派結腸右動脈結構名字睫狀神經節叢寬帶信號裡斯曼氏征硫氰酸烷基酯羅塞諾氏莢膜染劑馬克哈姆氏假說米特臘唑療法唯命論的