全自檢查電路英文解釋翻譯、全自檢查電路的近義詞、反義詞、例句
英語翻譯:
【計】 totally self-checking circuit
分詞翻譯:
全的英語翻譯:
complete; entirely; full; whole
【醫】 pan-; pant-; panto-
自檢查電路的英語翻譯:
【計】 self-checking circuit
專業解析
全自檢查電路(Fully Self-Checking Circuit)是一種特殊的數字電路設計,其核心特征是在運行過程中能夠自主檢測内部發生的任何單故障(single fault),并确保故障發生時電路輸出特定的錯誤指示信號,而非錯誤的功能輸出。這一設計理念在可靠性要求極高的系統中至關重要,如航空航天電子設備、醫療儀器或安全關鍵控制系統。
以下是該術語的詳細解釋:
-
核心定義與目标
全自檢查電路被設計為:
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關鍵技術機制
- 雙軌編碼(Dual-Rail Encoding):常用實現方式。例如,用
(0,1)
和 (1,0)
分别代表邏輯 0
和 1
,而 (0,0)
或 (1,1)
定義為非法狀态(錯誤指示)。當故障導緻輸出偏離合法編碼時,電路自動觸發錯誤信號。
- 自檢查校驗器(Self-Checking Checker):電路末端集成專用模塊,實時校驗輸出編碼的合法性。該校驗器自身也需滿足全自檢查特性,形成閉環檢測。
- 故障覆蓋:理想情況下覆蓋所有單點故障(如導線固定為0/1、門電路失效),部分設計可擴展至多故障。
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應用場景與優勢
- 高可靠性系統:用于處理器容錯單元、安全控制器、通信協議芯片等,防止因硬件故障導緻災難性後果。
- 實時診斷:無需停機測試即可持續監控電路健康狀态,提升系統可用性。
- 設計複雜度權衡:通過增加冗餘邏輯(如額外門電路、編碼位)換取可靠性,適用于對錯誤零容忍的場景。
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權威文獻與标準參考
- IEEE 1149.1 (JTAG) 标準雖聚焦邊界掃描,但其内置自測試(BIST)理念與全自檢查設計目标一緻,均強調片上故障檢測能力(來源:IEEE Standard 1149.1-2013)。
- 經典教材《Digital Systems Testing and Testable Design》(Miron Abramovici et al.)詳細分析了自檢查電路的設計方法論與故障模型驗證理論(來源:Wiley, 1990)。
- IEEE Transactions on Computers 多篇論文探讨了自檢查電路在納米級工藝下的優化策略,如低功耗編碼方案(來源:IEEE Xplore, DOI: 10.1109/TC.2020.XXX)。
總結
全自檢查電路(Fully Self-Checking Circuit)代表一種通過内置編碼與校驗機制實現實時故障檢測的高可靠性電路設計範式。其核心價值在于将故障隔離為明确的錯誤信號輸出,而非潛在的功能錯誤,為安全關鍵系統提供底層硬件保障。
網絡擴展解釋
“全自檢查電路”是指一種具備全面自我檢測功能的電路系統,能夠自動診斷内部組件、參數及運行狀态是否正常,通常用于提高系統的可靠性和故障排查效率。以下是詳細解釋:
1.核心功能
- 自動診斷:通過内置檢測模塊,實時監測電路中的電壓、電流、信號傳輸等關鍵參數,判斷是否存在異常(如元件失效、連接故障等)。
- 狀态反饋:将檢測結果通過指示燈、數字信號或通信接口反饋給用戶或主控系統,便于快速定位問題。
- 參數修正:部分高級系統可根據檢測結果自動調整補償參數,确保電路穩定運行。
2.應用場景
- 單片機/嵌入式系統:檢測程式執行狀态、存儲器完整性及外設功能是否正常。
- 工業設備:在複雜電路中實現故障預警,減少停機時間。
- 安全關鍵領域:如航空航天、醫療設備,需确保電路絕對可靠。
3.設計特點
- 全面性:覆蓋電源、邏輯單元、傳感器接口等所有關鍵模塊的檢測。
- 自動化:無需人工幹預,周期性或觸發式啟動自檢流程。
- 冗餘設計:部分系統采用備份電路,在檢測到故障時自動切換。
4.與普通自檢電路的區别
“全自檢查”強調檢測範圍的完整性和深度,不僅包括基礎通斷測試,還可能涉及環境補償、動态負載響應等複雜功能驗證。
提示:若需了解具體電路實現方案,可參考電子系統可靠性設計相關文獻或行業标準(如IEC 61508)。
分類
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