
幹涉攝影
Interferography(幹涉成像技術)是一種基于光波幹涉原理的高精度測量與成像方法。該技術通過記錄兩束或多束相幹光波疊加後産生的幹涉條紋,分析其相位差和振幅變化,從而獲取被測物體的形貌、折射率分布或動态變化信息。其核心原理可追溯至19世紀Thomas Young的雙縫幹涉實驗,現代應用則擴展至光學檢測、材料科學、生物醫學成像等領域。
在工程實踐中,幹涉成像技術被用于檢測光學元件的表面平整度,例如美國國家标準與技術研究院(NIST)将其作為非接觸式表面檢測的标準方法(來源:NIST官網光學計量專題)。天文學領域亦采用該技術實現合成孔徑幹涉成像,歐洲南方天文台的甚大望遠鏡幹涉儀(VLTI)便通過幹涉成像技術捕捉系外行星的高分辨率數據(來源:ESO官網儀器介紹頁面)。
該技術的數學表達可簡化為: $$ I(x,y) = I_1 + I_2 + 2sqrt{I_1I_2}cos(Deltaphi) $$ 其中$I(x,y)$為幹涉強度分布,$Deltaphi$為相位差。通過相位解調算法可重建被測物體的三維形貌。
根據權威詞典及學術資料,interferography(音标未明确标注)是一個專業術語,其核心含義與幹涉現象的記錄或成像技術相關,常見于光學、物理學及工程領域。以下是詳細解釋:
“通過interferography技術,研究人員成功捕捉到材料在高溫下的幹涉圖,進而分析其熱膨脹系數。”
如需更全面的例句或發音信息,建議查閱專業光學工程文獻或權威物理學術語庫。
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