
干涉摄影
Interferography(干涉成像技术)是一种基于光波干涉原理的高精度测量与成像方法。该技术通过记录两束或多束相干光波叠加后产生的干涉条纹,分析其相位差和振幅变化,从而获取被测物体的形貌、折射率分布或动态变化信息。其核心原理可追溯至19世纪Thomas Young的双缝干涉实验,现代应用则扩展至光学检测、材料科学、生物医学成像等领域。
在工程实践中,干涉成像技术被用于检测光学元件的表面平整度,例如美国国家标准与技术研究院(NIST)将其作为非接触式表面检测的标准方法(来源:NIST官网光学计量专题)。天文学领域亦采用该技术实现合成孔径干涉成像,欧洲南方天文台的甚大望远镜干涉仪(VLTI)便通过干涉成像技术捕捉系外行星的高分辨率数据(来源:ESO官网仪器介绍页面)。
该技术的数学表达可简化为: $$ I(x,y) = I_1 + I_2 + 2sqrt{I_1I_2}cos(Deltaphi) $$ 其中$I(x,y)$为干涉强度分布,$Deltaphi$为相位差。通过相位解调算法可重建被测物体的三维形貌。
根据权威词典及学术资料,interferography(音标未明确标注)是一个专业术语,其核心含义与干涉现象的记录或成像技术相关,常见于光学、物理学及工程领域。以下是详细解释:
“通过interferography技术,研究人员成功捕捉到材料在高温下的干涉图,进而分析其热膨胀系数。”
如需更全面的例句或发音信息,建议查阅专业光学工程文献或权威物理学术语库。
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