被测部件英文解释翻译、被测部件的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 UUT

分词翻译：

被的英语翻译：

by; quilt

测的英语翻译：

infer; measure; survey

部件的英语翻译：

assembly; components; parts; subassembly; unit
【计】 E; packing unit; U
【化】 element
【经】 part; parts

专业解析

被测部件的汉英词典释义与工程语境解析

一、核心定义

“被测部件”指在测试过程中被检测、分析或评估的独立单元或组件，对应英文术语为：

• Tested Component（通用译法）
• Unit Under Test (UUT)（工程标准译法）
• Device Under Test (DUT)（电子/电气领域常用）

在工程测试中，该术语特指处于测试系统中的目标对象，如电路板、传感器、机械模块等。

二、技术场景与功能

1. 电子工程：指代需验证性能的元器件（如集成电路、电阻器），通过仪器测量其电信号参数（电压、电流、频率等）。
2. 机械测试：涵盖承受负载或环境模拟的物理部件（如轴承、结构件），需分析其应力、疲劳寿命等指标。
3. 质量控制：在生产流程中，被测部件代表抽样单元，通过破坏性或非破坏性检测确保符合设计规格。

三、权威来源参考

• IEEE标准术语库：定义UUT为“执行特定功能且受测试条件约束的硬件或软件实体”（来源：IEEE Std 610.12-1990）IEEE Xplore。
• 牛津工程词典：将DUT描述为“电子测试系统中连接测量设备的核心对象”（来源：Oxford Dictionary of Engineering, 2015）。

四、术语关联概念

• 测试系统构成：被测部件需与测试设备（如示波器、万用表）及测试环境（温度、振动台）协同工作，形成完整测试链路。
• 数据关联性：其输出信号需与参考标准值对比，偏差结果反映部件性能状态。

网络扩展解释

“被测部件”是工程测试领域中的专业术语，具体解释如下：

一、基本定义

指在测试过程中需要被检测或验证的组件或设备，通常属于电子、计算机或工业产品的核心测试对象。例如在芯片验证时，被测部件可能是一块集成电路（IC）；在硬件测试中，可能是某个电路板模块。

二、英文对应术语

1. UUT（Unit Under Test）：最常见译法，强调测试单元的整体性
2. DUT（Device Under Test）：多用于IC验证领域，特指处于测试状态的具体器件

三、应用场景

• 电子测试：如示波器检测电路板的电压波形时，该电路板即被测部件
• 软件开发：FPGA验证中，烧录了特定代码的芯片作为被测部件
• 质量控制：汽车生产线中对发动机控制单元（ECU）的功能检测

四、相关概念区分

与“部件”的通用定义不同（如汉字部件），工程领域的被测部件必须具有可测试性，通常包含信号接口、参数指标等可量化检测要素。测试时需通过专用设备（如ATE自动化测试仪）对其性能进行验证。

注：如需具体行业应用案例，可参考IEC 61000等电子测试标准文档获取更专业说明。

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