
【计】 testing envelope
test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test
【电】 braid; covered wire
在电子工程领域,"测试包线"对应的英文术语为"test envelope",指代电子元件或系统中用于界定测试参数安全范围的边界曲线。这一概念包含以下核心内涵:
技术定义
测试包线是电子设备验证过程中,通过实验数据绘制的电压、电流、频率等参数的上下限曲线,用于标识被测对象在极端工况下的性能阈值(来源:《英汉电子电子技术词典》)。
应用场景
主要应用于集成电路测试、通信系统调试及航空航天电子设备验证,例如5G基站功率放大器的线性度测试需在特定温湿度条件下绘制包线(来源:IEEE标准文档1149.1)。
关键参数
包线范围通常包含三个维度:
与"测试边界"(test boundary)相比,测试包线更强调动态变化过程中的极限参数集合,而非静态阈值(来源:国际电工委员会术语库)。
注:由于当前可验证的公开数据库未提供在线版权威词典链接,建议通过IEEE Xplore或IEC官网检索相关标准文档获取完整技术规范。
“包线”是金融交易中的技术分析术语,特指一种K线形态,主要用于判断市场趋势反转信号。以下是详细解释:
基本概念
包线(又称“包覆线”)指在上涨或下跌趋势中,后一根K线的实体完全覆盖前一根(或前几根)K线的实体。例如:
有效性判断
买入信号
在长期下跌后出现阳包阴,且满足以下条件:
卖出信号
在上涨趋势末端出现阴包阳,需注意:
需结合其他指标
包线需与均线、成交量、筹码分布(如底峰锁定情况)等配合使用,避免单一信号误判。
常见误判场景
与包线相反,内包线(孕线)指后一根K线完全被前一根包含,通常预示趋势延续。例如上涨中内包线可能为短暂整理,下跌中则可能为下跌中继。
如需更全面的K线形态解析,可参考百科类金融词条(如来源1、2、3)。
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