
【計】 testing envelope
test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test
【電】 braid; covered wire
在電子工程領域,"測試包線"對應的英文術語為"test envelope",指代電子元件或系統中用于界定測試參數安全範圍的邊界曲線。這一概念包含以下核心内涵:
技術定義
測試包線是電子設備驗證過程中,通過實驗數據繪制的電壓、電流、頻率等參數的上下限曲線,用于标識被測對象在極端工況下的性能阈值(來源:《英漢電子電子技術詞典》)。
應用場景
主要應用于集成電路測試、通信系統調試及航空航天電子設備驗證,例如5G基站功率放大器的線性度測試需在特定溫濕度條件下繪制包線(來源:IEEE标準文檔1149.1)。
關鍵參數
包線範圍通常包含三個維度:
與"測試邊界"(test boundary)相比,測試包線更強調動态變化過程中的極限參數集合,而非靜态阈值(來源:國際電工委員會術語庫)。
注:由于當前可驗證的公開數據庫未提供線上版權威詞典鍊接,建議通過IEEE Xplore或IEC官網檢索相關标準文檔獲取完整技術規範。
“包線”是金融交易中的技術分析術語,特指一種K線形态,主要用于判斷市場趨勢反轉信號。以下是詳細解釋:
基本概念
包線(又稱“包覆線”)指在上漲或下跌趨勢中,後一根K線的實體完全覆蓋前一根(或前幾根)K線的實體。例如:
有效性判斷
買入信號
在長期下跌後出現陽包陰,且滿足以下條件:
賣出信號
在上漲趨勢末端出現陰包陽,需注意:
需結合其他指标
包線需與均線、成交量、籌碼分布(如底峰鎖定情況)等配合使用,避免單一信號誤判。
常見誤判場景
與包線相反,内包線(孕線)指後一根K線完全被前一根包含,通常預示趨勢延續。例如上漲中内包線可能為短暫整理,下跌中則可能為下跌中繼。
如需更全面的K線形态解析,可參考百科類金融詞條(如來源1、2、3)。
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