
【电】 grid leak bias
【计】 grid leak
【电】 bias; bias voltage
在电子工程领域,栅漏偏压(Gate-Drain Bias) 指施加在场效应晶体管(FET)栅极(Gate)与漏极(Drain)之间的直流电压差(通常记为 (V{GD}) 或 (V{DG}))。它是控制FET工作状态的关键参数之一,直接影响器件的导电沟道形成、电流传输特性及工作区域(如截止区、饱和区、线性区)。以下是详细解释:
$$
V{GD} = V{GS} - V{DS}
$$
该公式表明 (V{GD}) 受 (V{GS}) 和 (V{DS}) 共同影响 。
沟道调制效应
在饱和区((V{DS} > V{GS} - V{th})),(V{GD}) 趋近阈值电压 (V_{th}),导致沟道在漏极附近夹断。此时漏极电流 (ID) 与 (V{GD}) 的关系可近似为:
$$
ID propto (V{GS} - V{th}) left(1 + lambda V{DS}right)
$$
其中 (lambda) 为沟道长度调制系数,反映 (V_{GD}) 对电流的微调作用 。
击穿与可靠性
过高的 (V_{GD}) 可能导致栅氧化层击穿(尤其对MOSFET)或诱发热载流子效应,缩短器件寿命。典型安全范围需参考器件手册 。
权威参考来源:
栅漏偏压是电子管电路中一种特殊的栅极偏压实现方式,主要用于普及型电子管收音机的音频电压放大级。以下是其详细解释:
栅漏偏压通过栅极与地之间连接的大阻值电阻(通常5-10兆欧)形成,阴极直接接地。其核心在于利用栅极电流在电阻上的压降,动态产生栅极负电压。
栅漏偏压属于自给偏压的一种,而固定偏压需独立电源供电。三极管通常采用负偏压(栅漏偏压),场效应管则需正偏压。
栅漏偏压通过巧妙利用栅极电流和电阻特性,以低成本实现了电子管栅极负压的自动调节。这种设计体现了早期电子电路在简化结构与功能平衡上的智慧。
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