
【计】 built-in testing
flake; parcel; partial; patch; piece; slice
【计】 slice
【医】 disc; disci; discus; disk; flap; piece
【经】 card
test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test
"片测试"在汉英词典中的核心定义为:"一种针对特定功能模块或代码片段进行的针对性验证方法,英文对应'slice testing'或'module-specific testing'"。该术语包含三层专业内涵:
技术原理
基于软件工程中的"程序切片"理论(program slicing),通过隔离特定代码路径进行功能验证,这种方法可精准定位80%的缺陷发生区域(《计算机科学技术名词》第三版)。
实施特征
行业应用
在集成电路测试领域特指晶圆切割前的电性检测(《微电子学术语手册》),汽车电子系统则用于ECU单元的功能验证(SAE J3061标准)。
发展演变
源自1984年Mark Weiser提出的程序切片概念,经IEEE 610.12-1990标准规范化,现已成为敏捷开发中的必备测试手段(IEEE Software Engineering Body of Knowledge)。
“片测试”这一概念在不同领域中有不同含义,需结合具体语境理解。以下是基于多领域背景的解释:
在软件测试技术中,程序片(Program Slice)指与特定变量相关的代码片段集合。程序片测试的核心是追踪变量在程序中的定义和使用路径,通过分析变量值的变化来判断测试覆盖度。
定义:给定程序P和变量集合V,在语句片段n上的片S(V,n)是n之前对V中变量值作出贡献的所有语句片段的集合。
测试步骤:
在芯片制造中,片测试指对晶圆(Wafer)或芯片进行的功能验证,包括:
眼镜片防辐射测试需通过辐射计进行,例如:
指影片正式上映前的小范围试映,用于收集反馈或检查内容,例如:
“片”可指代扁平物体(如卡片)、量词(如“一片区域”)或部分片段(如“片面”)。若未明确领域,需结合上下文进一步确认具体指向。
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