
【化】 interference spectroscope
【化】 interference spectrum
appearance; bearing; ceremony; instrument; present
"幹擾光譜儀"的英文對應術語為"Interference Spectrometer",指基于光學幹涉原理測量電磁波譜分布的精密儀器。該設備通過分析光波幹涉形成的明暗條紋(即幹涉圖),反演出物質的光譜特性。其核心組件包括分束器、反射鏡組、移動平台和光電探測器,通過邁克爾遜幹涉儀或法布裡-珀羅幹涉儀等經典結構實現相位調制。
在光譜分辨率指标上,幹擾光譜儀可達0.1 cm⁻¹量級,顯著優于色散型光譜儀。其技術優勢體現在同時獲取全波段光譜信息(Fellgett優勢)和高通量檢測(Jacquinot優勢)。美國國家标準與技術研究院(NIST)的研究表明,這類儀器在紅外光譜分析中的波長精度可達±0.01 nm。
實際應用中,該設備廣泛用于大氣成分監測(如NASA的AIRS衛星載荷)、材料特性分析(半導體晶圓檢測)和天體光譜研究(系外行星大氣層成分探測)。歐洲空間局(ESA)的Sentinel-5P衛星就搭載了基于傅裡葉變換的幹涉光譜儀,用于全球臭氧層監測。
現代幹擾光譜儀已發展出靜态幹涉(如Sagnac幹涉儀)、可調諧濾波等多形态結構。中國科學院長春光機所研制的空間外差光譜儀,通過固定光程差設計實現了無運動部件的穩定測量,在環境監測領域取得重要應用。
“幹擾光譜儀”這一表述可能存在兩種理解方向:一種是光譜儀在運行中受到的外部幹擾因素,另一種則是該儀器本身具有檢測或分析幹擾的功能。根據現有信息及常見科學語境,以下從幹擾因素對光譜儀的影響進行解釋:
光譜儀(Guāngpǔ Yí)是一種将複合光分解為光譜線,并通過分析光譜特征來測定物質成分的儀器。其核心組件包括棱鏡、衍射光栅、探測器等。
外部幹擾因素
指在光譜儀使用過程中,影響其測量準确性的外界條件,常見幹擾包括:
儀器設計中的抗幹擾技術
部分高端光譜儀會通過以下技術減少幹擾:
例如,在分析行星大氣成分時,背景星光或儀器内部熱輻射可能幹擾目标光譜的采集。此時需通過算法校正或多次測量取均值來降低幹擾影響。
若您需要了解特定類型的“幹擾光譜儀”設備,建議補充更多上下文信息(如應用領域)。當前解釋基于光譜儀受幹擾的常規分析,如需進一步探讨,可參考相關光學工程文獻或儀器手冊。
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