大腦側裂（Lateral Sulcus）是神經解剖學中描述大腦半球表面溝回結構的重要術語，又稱外側溝或Sylvian裂。該結構位于大腦外側，起自颞極附近，向後上方延伸至頂葉與颞葉交界處，分隔額葉、頂葉與颞葉。作為大腦皮層最顯著的解剖标志之一，其深度容納大腦中動脈的主要分支，并構成島葉的外側邊界。
在功能層面，大腦側裂周邊區域包含布羅卡區（語言運動中樞）和韋尼克區（語言理解中樞），與語言處理、聽覺信息整合及高級認知功能密切相關。臨床影像學中常通過側裂的對稱性評估腦血管病變，其形态變異可作為阿爾茨海默病等神經退行性疾病的早期影像标記物。
該術語在《格氏解剖學》第42版中被明确定義為"分隔大腦額頂葉與颞葉的斜行深溝"，其命名源自17世紀荷蘭解剖學家Franciscus Sylvius的發現。現代神經外科手術中，側裂入路是處理基底動脈瘤的标準顯微外科技術路徑。
大腦側裂（Lateral Sulcus），又稱外側裂或西爾維厄斯裂（Sylvian Fissure），是大腦表面最顯著的溝裂之一，主要功能是分隔腦葉并參與腦區功能劃分。以下是詳細解釋：
大腦側裂位于大腦半球外側面，呈斜行走向，分隔上方的額葉、頂葉與下方的颞葉。其深部隱藏着重要的腦區，如島葉（Insula），并與側腦室等結構存在空間關聯。
在先天性發育異常中，若出現額外腦裂（如前後颞葉水平裂），則稱為腦裂畸形。表現為腦組織裂開并與側腦室連通，可能導緻癫痫、運動障礙等症狀，需通過影像學診斷。
大腦側裂是正常腦部結構，若需進一步了解先天性畸形或臨床案例，可參考神經解剖學資料或醫學影像學文獻。
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