故障模拟算法英文解釋翻譯、故障模拟算法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 fault simulation algorithm

分詞翻譯：

故障模拟的英語翻譯：

【計】 fault simulation

算法的英語翻譯：

algorithm; arithmetic
【計】 ALG; algorithm; D-algorithm; Roth's D-algorithm
【化】 algorithm
【經】 algorithm

專業解析

故障模拟算法（Fault Simulation Algorithm）是電子工程與計算機科學領域的關鍵技術，主要用于模拟電子系統（如集成電路、通信設備）在特定故障條件下的行為，以評估其可靠性和容錯能力。該算法通過注入預設故障模型（如短路、斷路或信號延遲），結合邏輯仿真技術，生成故障響應數據，從而輔助工程師優化測試方案。

從實現原理看，故障模拟算法可分為并行模拟和串行模拟兩類。并行模拟基于事件驅動機制，利用硬件描述語言（HDL）同步模拟正常電路與故障電路的行為差異，典型應用包括VLSI芯片的自動化測試向量生成（ATPG）。串行模拟則采用時間步進方式逐周期對比故障傳播路徑，更適用于時序敏感型系統驗證（參考《VLSI Test Principles and Architectures》第3章）。

國際電氣電子工程師協會（IEEE）在标準文檔IEEE 1149.1-2013中規範了邊界掃描測試的故障模拟框架，強調算法需支持可觀測性分析（Observability Analysis）與可控性指标（Controllability Metrics）的雙重驗證。美國國家儀器（NI）實驗室的實證研究表明，基于機器學習的動态故障模拟算法可将誤判率降低至0.3%以下（數據來源：NI年度技術白皮書）。

網絡擴展解釋

故障模拟算法是指用于模拟電子系統或數字電路中可能存在的故障，并評估其對系統性能影響的計算方法。以下從定義、目的、類型、方法及應用場景等方面進行綜合解釋：

定義與核心目标
故障模拟算法通過構建數學模型，在系統中注入預設故障（如電路短路、斷路等），模拟故障發生時的系統行為，以驗證故障檢測能力或評估系統可靠性。例如，在集成電路測試中，常用單固定故障（stuck-at fault）模拟邏輯門輸出固定為0或1的情況。
主要應用領域
- 數字系統驗證：如陳俊亮提出的圖形法，通過條件有向圖（含交節點、條件節點）和矩陣（連通矩陣C、條件矩陣D）表示故障傳播路徑。
- 電路測試優化：用于生成高效的測試向量，減少實際測試成本，尤其在VLSI（超大規模集成電路）測試中應用廣泛。
常見故障類型
- 單固定故障（Single Stuck-at Fault）
- 常開故障（Stuck-open）
- 路徑延遲故障（Path Delay Fault）
- 模拟電路故障（如電阻值漂移）
典型算法方法
- 串行法：逐個測試向量與存儲的正常響應對比，發現差異即标記故障，實現簡單但效率較低。
- 并發法：同時模拟多個故障，減少重複計算，提升效率。
- 圖形法：基于圖論構建條件有向圖，通過矩陣運算分析故障敏化路徑。
實際意義
通過故障模拟可提前識别測試設備的潛在問題，例如在安全測試中，校準間隙期的設備性能驗證需依賴此類算法确保檢測準确性。

如需進一步了解具體算法的數學實現（如圖形法的矩陣運算），可參考相關論文或技術文檔來源。