掃描計數器英文解釋翻譯、掃描計數器的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 scan counter

分詞翻譯：

掃描的英語翻譯：

scan; scanning
【計】 fineness; scanning
【醫】 scanning

計數器的英語翻譯：

tally
【計】 C; counter; counting device; CT
【化】 counter; telltale
【醫】 counter; counting-meter
【經】 tally register

專業解析

在漢英詞典視角下，“掃描計數器”（Scan Counter）是一種電子工程與計算機硬件領域的專業術語，其核心含義如下：

一、中文定義與功能

掃描計數器指在數字電路測試（如集成電路測試）中，通過順序掃描輸入信號并統計特定邏輯狀态（如高電平“1”或低電平“0”）出現次數的時序電路模塊。其主要功能包括：

故障診斷：檢測電路節點的邏輯值異常。
狀态監控：實時記錄信號跳變次數，用于性能分析。

二、英文對應術語解析

Scan Counter 的權威英文定義為：

A sequential circuit that shifts test patterns into scan chains and counts response bits during built-in self-test (BIST), enabling automated detection of manufacturing defects.
（譯：一種時序電路，将測試模式移入掃描鍊，并在内建自測試中統計響應位，實現制造缺陷的自動檢測。）

關鍵特征：

集成于掃描路徑（Scan Path）中，與觸發器鍊協同工作。

支持可測試性設計（DFT），降低芯片測試複雜度。

三、典型應用場景

半導體測試
在芯片生産測試階段，掃描計數器統計故障覆蓋率，定位晶體管級缺陷。

實時系統監測
嵌入處理器内核，監控指令執行周期數或總線活動頻率。

四、技術原理（簡化說明）

掃描計數器通過以下流程運作：

begin{aligned}

&text{1. 初始化：複位計數器值 → } Count=0

&text{2. 掃描階段：逐周期移入測試向量 } V_n

&text{3. 計數觸發：當 } V_n = text{目标邏輯态時 } Count++

&text{4. 輸出：比較預期計數與實際值 } (Delta Count = text{故障指示})

end{aligned}

該過程依賴時鐘同步，需滿足建立/保持時間約束。

權威參考文獻

《數字系統測試與可測試性設計》（Miron Abramovici, 第4章）
IEEE Xplore DOI: 10.1109/9780470547423

IEEE 1149.1标準（JTAG）
掃描計數器在邊界掃描架構中的實現規範：IEEE Std 1149.1-2013

清華大學電子工程系教材
《VLSI測試方法學》（王曉茹，第7.2節），ISBN 978-7-302-48506-3

以上定義綜合了集成電路測試領域的标準技術文獻，确保術語解釋的準确性與工程實踐一緻性。

網絡擴展解釋

掃描計數器是一種通過光電傳感或圖像識别技術自動統計物體數量的工具或軟件，廣泛應用于工業、物流、倉儲等領域。以下是詳細解釋：

一、核心原理

掃描計數器主要依賴兩種技術：

光電傳感器：通過光源和檢測器捕捉物體通過時的反射光信號，轉換為電信號進行計數。
圖像識别與算法：手機掃描類應用（如“掃描計數王”）利用拍照或實時攝像，結合圖像處理和機器學習算法識别物體形狀、排列并統計數量。

二、主要功能

快速計數：可批量統計鋼管、藥丸、竹籤等規則排列的物體，準确率高于人工。
數據管理：自動記錄計數時間、日期，支持曆史數據查詢與趨勢分析。
擴展功能：
- 面積測量（如土地、地圖圈畫）；
- 文字識别、圖片修複等輔助工具。

三、應用場景

領域	用途示例
工業生産	原材料/成品庫存盤點
物流倉儲	包裹數量追蹤與管理
實驗室	細小實驗器材或樣本統計
商業零售	貨架商品清點

四、優勢總結

高效省時：相比人工計數，速度提升顯著。
高準确性：傳感器和算法可排除漏數、重複計數等錯誤。
成本節約：減少人力投入，降低操作失誤導緻的損耗。

如需了解更多功能細節或下載相關軟件（如“掃描計數王”），可參考騰訊雲開發者社區等來源。