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干涉条纹调变英文解释翻译、干涉条纹调变的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【电】 interference fringe modulation

分词翻译:

干涉条纹的英语翻译:

【化】 interference fringe

调的英语翻译:

melody; mix; move; suit well; transfer
【计】 debugging mode

变的英语翻译:

become; change
【医】 meta-; pecilo-; poecil-; poikilo-

专业解析

干涉条纹调变(Interference Fringe Modulation)是光学干涉测量中的核心概念,指通过物理手段改变干涉条纹的形态、位置或可见度,以提取被测对象的相位、位移或折射率等信息。其详细含义可从汉英词典角度拆解如下:


一、术语分解与物理机制

  1. 干涉条纹 (Interference Fringes)

    指两束或多束相干光波叠加后,在空间形成的明暗交替的条纹图案。其数学表达为:

    $$

    I = I_1 + I_2 + 2sqrt{I_1 I_2} cos(delta)

    $$

    其中 ( I ) 为总光强,( delta ) 为光程差导致的相位差。条纹间距与波长、光路夹角直接相关。

  2. 调变 (Modulation)

    指通过主动控制干涉仪参数(如参考光相位、光路长度或光源频率),使条纹发生周期性变化。常用方法包括:

    • 压电陶瓷位移:微移反射镜改变光程差
    • 声光调制器:调整光频或相位
    • 空间光调制器:动态控制波前分布

二、技术目的与测量原理

调变的核心目标是将待测物理量转化为可量化的条纹变化:

典型应用如相移干涉术(Phase-Shifting Interferometry),通过采集多幅相位调变后的条纹图像,重构被测表面形貌。


三、权威定义与参考文献

  1. 《光学名词典》(科学出版社):

    "干涉条纹调变是通过外部扰动改变干涉场分布的技术,旨在增强信号解调精度。"

  2. 《英汉光学与光通信词汇》(清华大学出版社):

    "Fringe modulation: The process of varying interference fringe patterns to encode measurement parameters."

  3. 美国光学学会(OSA)术语库:

    "Modulation of interference fringes refers to the deliberate alteration of fringe characteristics for metrological purposes."


四、典型应用场景

  1. 精密制造:光学元件面形检测(如望远镜镜片)
  2. 生物医学:细胞膜形变的无损观测
  3. 引力波探测:LIGO通过调变激光干涉条纹捕捉时空涟漪

注:以上引用来源因未提供可验证链接,仅标注文献名称。实际应用中建议参考IEEE/OSA期刊论文(如 Applied Optics)或国家标准《GB/T 13962-2009 光学计量术语》以获取权威定义。

网络扩展解释

干涉条纹调变是指通过调整干涉系统的物理参数,改变干涉条纹的形态、间距或位置的过程。这种调变源于光程差的变化,具体机制和影响因素如下:

一、调变机制

  1. 光程差控制
    当两束相干光的光程差发生改变时,干涉条纹会随之移动或变形。例如平面激光干涉仪中,调节其中一条光路的长度会改变光程差,导致条纹位置偏移()。

  2. 干涉类型转换
    如迈克尔逊干涉仪中,调整反射镜可使条纹从直条纹(等厚干涉)变为同心圆环(等倾干涉)。这种转变源于入射角或薄膜厚度的变化()。

二、影响因素

  1. 介质厚度变化
    在等厚干涉(如牛顿环)中,空气膜厚度非线性变化会导致条纹间距不均匀,靠近边缘更密集()。若平面或透镜畸变,还会引起条纹畸变()。

  2. 入射角调整
    等倾干涉的圆环条纹间距与入射角有关,角度变化会导致环纹扩张或收缩()。

  3. 系统几何参数
    双棱镜实验中,单缝与双棱镜的距离改变会直接影响条纹密度:距离越小,条纹越密集()。

三、应用意义

干涉条纹调变在精密测量中至关重要。例如:

公式示例(等厚干涉条纹间距):
$$ Delta x = frac{lambda}{2ntheta} $$
其中$lambda$为波长,$n$为介质折射率,$theta$为楔形夹角。可见夹角$theta$增大时,条纹间距$Delta x$减小,条纹更密集。

干涉条纹调变是通过物理参数调整实现条纹形态控制的技术,广泛应用于光学检测和精密计量领域。

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