
【电】 control-grid injection
control; dominate; desist; grasp; hold; manage; master; predominate; rein
rule
【计】 C; control; controls; dominance; gated; gating; governing
【医】 control; dirigation; encraty
【经】 check; command; control; controlling; cost control; dominantion
monitoring; regulate; rig
【电】 grid injection
控制栅极注入(Control Grid Injection)是电子工程领域用于描述半导体器件中载流子调控机制的专业术语。该概念指通过控制栅极结构对电荷载流子(电子或空穴)进行定向注入的操作,用以调节器件导电性能或实现特定功能。
从汉英词典角度解析:
在金属-氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)中,控制栅极电压通过改变沟道区的电场强度,控制源极与漏极之间的载流子注入量。这种注入机制直接影响器件的阈值电压和开关特性,其物理模型可表示为: $$ V{th} = phi{ms} + 2phi_F + frac{sqrt{4qvarepsilon_s N_A phiF}}{C{ox}} $$ 其中$C_{ox}$为栅氧化层电容,$N_A$是衬底掺杂浓度。
技术应用包括:
本概念在《半导体器件物理》(施敏著)和IEEE Electron Device Letters期刊中均有详细论述,建议参考Springer出版的《Modern Semiconductor Device Physics》第4章栅控原理相关内容。
“控制栅极注入”是半导体器件领域的一个专业术语,通常与晶体管(如MOSFET)或存储器(如闪存)的工作机制相关。以下是可能的解释方向:
MOSFET中的热载流子注入 在传统MOSFET中,当栅极电压较高时,沟道中的载流子(电子或空穴)可能获得足够能量,穿过栅极氧化层进入栅极材料中。这种现象称为热载流子注入,可能导致器件阈值电压漂移或可靠性下降。
闪存存储器的电荷存储机制 在闪存中,“控制栅极”通过施加电压,将电荷(电子)注入浮栅层实现数据存储。例如:
离子注入工艺中的栅极掩膜作用 在芯片制造中,控制栅极结构可作为离子注入的掩膜,精确控制掺杂区域:
$$
text{掺杂浓度} propto frac{V_{gate}}{t_{oxide}}
$$
其中$V{gate}$为栅压,$t{oxide}$为氧化层厚度。
新型器件中的载流子调控 在纳米级器件(如FinFET)中,栅极结构的三维设计可优化载流子注入路径,提升开关速度和能效比。
由于该术语的具体含义需结合应用场景判断,建议补充以下信息:
若涉及学术文献,可提供原文段落以便更精准解读。
奥吉耳维氏综合征备用方案苯氨磺酸博奈哈德结构差分方程丑化电离效率曲线动物螺旋体科对Ж法律关系的客体分部门毛利辅助业务跟内侧支搁浅的古巴狼蛛酊骨组织函数程序和平抵抗黄鼠角叶蚤华盛顿假滴定极限行距可调整电压发电机面指数膜性痛经硼酸胆硷切片机商业性加工规模数字命令语言