烧入周期英文解释翻译、烧入周期的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 burn-in period

分词翻译：

烧的英语翻译：

bake; burn; burning; carbonado; cook; cremation; fever; grill; heat; roast
set sth. on fire
【化】 burning

入的英语翻译：

agree with; enter; income; join

周期的英语翻译：

cycle; period; wheel
【计】 C; cycle time; loop cycle; periods
【化】 period
【医】 cycle
【经】 cycle; period

专业解析

在电子工程和计算机硬件领域，"烧入周期"（Burn-in Cycle）是一个重要的专业术语，指对电子元件（如集成电路、存储器芯片等）进行老化测试的完整过程。其核心目的是通过模拟长时间运行条件，提前暴露潜在缺陷，筛选出早期失效产品，确保器件可靠性。以下是详细解释：

一、术语定义与中英对照

中文：烧入周期
英文：Burn-in Cycle
定义：在高温、高电压等加速应力条件下，对电子元件进行持续通电测试的标准化流程。该过程通常持续数小时至数十小时，以激发潜在故障（如材料缺陷、工艺瑕疵）。

二、技术原理与阶段划分

一个完整的烧入周期包含三个阶段：

升温阶段（Ramp-up）
将元件置于高温环境（通常125°C–150°C），并逐步施加额定电压的1.2–1.5倍，模拟极端工作状态。

稳定测试阶段（Dwell）
维持高温高压条件，运行诊断程序（如内存读写循环、逻辑门测试），持续监测参数漂移或功能失效。

降温阶段（Ramp-down）
逐步降低温度和电压，检测元件在热应力释放后的恢复性能。

三、应用场景与行业标准

半导体制造：CPU、GPU等芯片量产前需通过烧入周期筛选，符合JEDEC（固态技术协会）标准。
航空航天与医疗设备：高可靠性要求的系统采用延长烧入周期（如168小时），参考MIL-STD-883标准。
数据中心硬件：服务器内存模块（DIMM）需完成48小时烧入测试，降低云端设备故障率。

四、权威文献支持

JEDEC JESD22-A108
定义了温度、电压、持续时间等烧入参数，被英特尔、三星等厂商采用（来源：JEDEC官网）。

IEEE《集成电路可靠性手册》
指出烧入周期可筛除80%的早期失效器件（来源：IEEE Xplore数据库）。

《半导体制造技术》教材
详述烧入对电迁移（Electromigration）和热载流子效应（Hot Carrier Effect）的检测机制（来源：科学出版社）。

五、与其他术语的区分

烧录（Programming）：仅指将数据/代码写入存储器，不包含老化测试。
老化测试（Aging Test）：广义的可靠性试验，烧入是其中一种加速老化方法。

注：因该术语高度专业化，公开文献多发布于学术数据库或行业标准文档。建议通过IEEE Xplore、JEDEC官网或专业教材获取完整技术细节。

网络扩展解释

根据您的提问，“烧入周期”这一表述可能存在理解偏差，以下提供两种可能的解释方向：

一、若为“烧伤的分期”（可能因发音或输入导致的误差）

根据烧伤治疗的医学知识，烧伤后的恢复可分为三个阶段（参考）：

休克期（烧伤后48小时内）：体液大量渗出，需重点防治低血容量性休克。
感染期（创面愈合前）：因皮肤屏障受损，易发生感染，需严格抗感染处理。
愈合期（创面修复至瘢痕形成）：需关注瘢痕增生问题，进行康复干预。

二、若为“进入周期”（如试管婴儿治疗术语）

在辅助生殖领域，“进入周期”指正式启动试管婴儿治疗流程（参考），包括：

降调促排卵：通过药物调控激素水平，促进卵泡发育。
取卵与胚胎培养：取出卵子并与精子结合形成胚胎。
移植阶段：将胚胎移植至子宫内，或进行冷冻保存。

补充说明

“烧”单独释义为物体着火或高温加热（参考），如“燃烧”“烧灼”等，但“烧入周期”并非规范术语。建议核实具体语境或修正关键词（如“烧伤分期”或“进入周期”），以便提供更精准的信息。