平均值控制图英文解释翻译、平均值控制图的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 X-control chart

分词翻译：

平均值的英语翻译：

【计】 AV; average value; AVG; mean value
【经】 average value; mean; mean value

控制图的英语翻译：

【经】 control chart

专业解析

平均值控制图（X-bar Chart）是统计过程控制（SPC）的核心工具之一，用于监控生产或服务过程中质量特性的中心趋势（均值）是否处于稳定受控状态。其核心原理是通过定期抽取样本、计算样本均值，并与预设的控制限比较，以识别过程的异常波动。以下是中英术语对照及关键要素解析：

一、定义与目的（Definition and Purpose）

中文术语：平均值控制图（均值图）
英文术语：X-bar Chart（或Average Control Chart)
功能：检测过程均值是否发生偏移（如设备校准偏差、材料变更等系统性变化），确保过程稳定性。
适用数据：连续型变量（如尺寸、重量、时间等）。

二、核心构成要素（Key Components）

中心线（Center Line, CL）
- 代表过程均值的期望值，通常为历史数据平均值的估计（$$bar{bar{X}}$$）。
- 计算公式：
  $$ CL = frac{sum_{i=1}^{k} bar{X}_i}{k} $$
  
  （其中 $$bar{X}_i$$ 为第 $$i$$ 组样本均值，$$k$$ 为样本组数）
控制上限/下限（Upper/Lower Control Limits, UCL/LCL）
- 基于样本均值的标准差设定，反映自然波动范围（通常为 ±3σ）。
- 计算公式：
  $$ UCL = bar{bar{X}} + A_2 bar{R}, quad LCL = bar{bar{X}} - A_2 bar{R} $$
  
  （$$A_2$$ 为控制图系数，$$bar{R}$$ 为样本极差平均值）

三、应用场景（Application Scenarios）

制造业：监控零件加工尺寸的批次稳定性。
服务业：追踪客服通话平均时长是否符合标准。
医疗行业：检测实验室检验结果的均值漂移。

四、权威参考来源（Authoritative References）

美国质量协会（ASQ）
- 定义与标准计算步骤：
  Statistical Process Control (SPC) Overview
美国国家标准与技术研究院（NIST）
- 控制图原理与系数表：
  NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods
国际标准 ISO 7870-2:2023
- 控制图通用规范（需订阅访问）：
  ISO 7870-2: Control charts — Part 2

五、使用注意事项（Critical Considerations）

控制限 ≠ 规格限：控制限基于过程实际波动，规格限源于客户要求。
样本量一致性：每组样本量需固定（通常 $$n=2-10$$），否则需调整控制限。
模式分析：连续点上升/下降、周期性波动等可能预示特殊原因变异。

提示：实际应用中需结合极差控制图（R-chart）共同使用，以同步监控过程离散程度。

网络扩展解释

平均值控制图（X-bar Chart）是统计过程控制（SPC）中用于监控数据集中趋势的核心工具。以下是详细解释：

1.定义与作用

平均值控制图通过追踪子组均值的波动，反映过程的中心位置是否稳定。它与极差控制图（R Chart）联合使用，形成均值-极差控制图（X-bar and R Chart），可同时监控过程的平均值和离散程度。

2.适用场景

适用于连续型数据（如尺寸、重量、时间等）。
数据需以子组（subgroup）形式收集，每个子组通常包含3-10个样本。

3.核心计算

子组均值：$bar{X} = frac{sum_{i=1}^n X_i}{n}$，其中$n$为子组样本数。
控制限计算：
- 中心线（CL）：所有子组均值的平均值，即$bar{bar{X}}$。
- 上下控制限（UCL/LCL）：
  $$UCL = bar{bar{X}} + A_2 cdot bar{R}$$
  $$LCL = bar{bar{X}} - A_2 cdot bar{R}$$
  其中，$bar{R}$为子组极差的平均值，$A_2$为与子组大小相关的常数。

4.特点与优势

灵敏度高：通过子组均值抵消偶然波动（偶波），更容易检测系统性异常（异波）。
对正态性要求宽松：即使原始数据非正态分布，子组均值也近似服从正态分布（中心极限定理）。

5.与极差控制图的区别

平均值控制图监控中心位置，极差控制图监控离散程度。
两者结合可全面评估过程的稳定性和变异来源。

示例分析：若某生产线的零件尺寸均值超出控制限，可能表明设备偏移或材料变化；若极差图异常，则可能由操作不当或测量误差引起。

如需进一步了解具体计算步骤或案例分析，（均值-极差控制图原理）及（SPC应用场景）。