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等厚幹涉英文解釋翻譯、等厚幹涉的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【化】 equal thickness interference

分詞翻譯:

等的英語翻譯:

class; grade; rank; wait; when
【機】 iso-

厚的英語翻譯:

deep; favour; large; stress; thick
【醫】 pachy-

幹涉的英語翻譯:

interfere; intervene; intermeddle; interpose; meddle; interference
interposition
【化】 interference
【醫】 interfere; interference

專業解析

等厚幹涉(Interference of Equal Thickness),是光學中薄膜幹涉的一種重要類型,指當光照射在厚度不均勻但折射率均勻的透明薄膜上時,相同厚度處的光程差相同,從而産生明暗相間的幹涉條紋的現象。其英文術語直譯為 "Interference of Equal Thickness",也稱為 "Fizeau Interference"。

核心原理與特征:

  1. 發生條件: 光照射在厚度不均勻(例如楔形空氣膜、牛頓環裝置中的空氣隙)但折射率均勻的薄膜上,通常在薄膜的兩個表面發生反射(或折射)産生相幹光。
  2. 幹涉機制: 來自薄膜上下表面反射的兩束相幹光相遇時發生幹涉。其光程差(Δ)主要由薄膜厚度(d)和入射角決定。對于垂直入射或近似垂直入射的常見情況,光程差公式為: $$ Delta = 2nd + frac{lambda}{2} $$ 其中:
    • n 是薄膜的折射率,
    • d 是薄膜在入射點處的厚度,
    • λ/2 是附加光程差(半波損失),通常發生在光從光疏介質射向光密介質反射時。
  3. 條紋特征: 幹涉條紋的形狀直接反映了薄膜的等厚線(厚度相等的點的軌迹)。例如:
    • 楔形薄膜: 産生平行于楔棱的直條紋。
    • 牛頓環: 産生以接觸點為中心的明暗相間的同心圓環(等厚線是圓)。
    • 不規則薄膜: 條紋形狀與薄膜的等厚線形狀一緻。
  4. 條紋間距: 相鄰明紋(或暗紋)對應的薄膜厚度差(Δd)是固定的,對于波長 λ 的光,有 Δd = λ/(2n)。因此,薄膜厚度變化越陡(梯度越大),條紋越密集;厚度變化越緩,條紋越稀疏。

觀測與應用:

參考來源:

  1. 《光學教程》(姚啟鈞原著,華東師大光學教材編寫組改編),高等教育出版社 - 薄膜幹涉章節詳細闡述了等厚幹涉原理、牛頓環及應用。
  2. MIT OpenCourseWare - Physics III: Vibrations and Waves - 課程材料包含薄膜幹涉(包括等厚幹涉)的物理原理和公式推導。
  3. HyperPhysics (Georgia State University) - "Thin Film Interference" 條目清晰解釋了等厚幹涉與等傾幹涉的區别及條紋特征。
  4. University of Toronto Department of Physics - Lab Manuals - 牛頓環實驗指導書通常包含對等厚幹涉原理及其在測量中應用的說明。

網絡擴展解釋

等厚幹涉是薄膜幹涉的一種形式,其核心特征是幹涉條紋的形成與薄膜厚度分布直接相關。以下從定義、原理、公式及應用等方面進行詳細解釋:

一、定義與基本概念

等厚幹涉是指平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜表面時,上下表面反射的光因光程差不同而形成幹涉條紋的現象。同一厚度處的光程差相同,對應同一級幹涉條紋,因此條紋形狀與薄膜的等厚線一緻。

二、形成條件與原理

  1. 形成條件:

    • 入射光為平行光(如激光或準直光)。
    • 薄膜厚度不均勻但變化平緩,折射率均勻。
    • 上下表面反射的光存在光程差。
  2. 原理: 當光從薄膜上下表面反射時,兩束反射光的光程差由薄膜厚度((d))和折射率((n))決定。若考慮半波損失(如光從光疏介質到光密介質反射時的相位突變),光程差公式為: $$ Delta = 2nd + frac{lambda}{2} $$ 其中,(lambda)為光波長。當(Delta = klambda)((k)為整數)時形成明紋,(Delta = (2k+1)frac{lambda}{2})時形成暗紋。

三、典型實例

  1. 牛頓環: 由平凸透鏡與平面玻璃間的空氣膜形成同心圓環狀條紋,中心為暗斑。同一圓環對應空氣膜厚度相同,屬于典型的等厚幹涉。

  2. 劈尖幹涉: 兩玻璃闆間形成楔形空氣膜,産生平行于棱邊的明暗相間直條紋。條紋間距與劈尖角成反比。

四、特征與應用

  1. 特征:

    • 條紋形狀與薄膜等厚線一緻。
    • 條紋間距反映厚度變化速率,可用于測量微小角度、薄膜厚度等。
  2. 應用:

    • 檢測光學元件表面平整度。
    • 測量材料膨脹系數或微小位移。
    • 工業中用于精密加工的質量控制。

五、與等傾幹涉的區别

等傾幹涉由相同入射角的光形成同心圓環(如擴展光源照射平行薄膜),而等厚幹涉由相同厚度處的光形成條紋,兩者形成條件和條紋特征不同。

如需進一步了解實驗方法(如讀數顯微鏡的使用)或具體公式推導,可參考權威教材或科研文獻。

分類

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