
【计】 punch check
bore a hole; perforate; stave
【计】 punched hole; punching
【医】 fenestration; perforate; perforation; tresis
【计】 verify
穿孔校验(Punched Card Verification)是一种早期数据验证技术,指通过物理打孔卡片上的孔洞排列模式来编码、存储和核对信息的过程。该技术起源于19世纪末,广泛应用于20世纪中期的计算机数据处理系统。
从技术原理角度,穿孔校验依赖二进制编码逻辑:卡片特定位置的孔洞代表"1",无孔代表"0"。校验时通过机电读卡器检测孔位组合,与预设编码规则比对验证数据准确性。美国国家标准局(现NIST)1954年发布的FIPS-1标准曾规范其编码格式。
主要应用场景包括:
现代意义上,穿孔校验为数字存储技术奠定了基础。IEEE《计算历史年鉴》指出其校验原理直接影响现代校验和(Checksum)算法设计。大英博物馆技术档案显示,该技术持续使用至1980年代,才被磁存储介质取代。
术语对应的英文翻译应注意语境差异:
“穿孔校验”是“穿孔”与“校验”两个词语的组合,需分别解释其含义及可能的组合意义:
穿孔
校验
“穿孔校验”并非固定术语,可能指以下场景:
建议根据具体上下文进一步明确“穿孔校验”的应用领域。
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