故障测试生成英文解释翻译、故障测试生成的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 fault test generation

breakdown; fault; hitch; malfunction; stoppage; trouble
【计】 booboo; F; failure; fault; malfunction
【化】 malfunction
【经】 breakdown; trouble

【计】 test generation

故障测试生成（Fault Test Generation）是电子工程和计算机科学领域，特别是在集成电路（IC）测试和数字系统验证中的一项关键技术。其核心含义如下：

1.中文术语解析：

故障 (Gùzhàng / Fault): 指硬件系统（如芯片、电路板）或软件系统中存在的缺陷或异常状态，这些缺陷可能导致系统功能失效或性能下降。在数字电路测试中，通常指制造缺陷（如短路、开路、晶体管故障）在逻辑功能上表现出的错误模型，如固定型故障（Stuck-at Fault）。
测试 (Cèshì / Test): 指施加特定的输入信号序列（测试向量/Test Vectors）到被测系统，并观察其输出响应，以判断系统是否存在故障或功能是否正常的过程。
生成 (Shēngchéng / Generation): 指自动或半自动地创建、推导、设计出满足特定目标（如检测特定故障）的测试输入序列的过程。

2.英文对应概念：

Fault: A physical defect or an incorrect logical behavior modeled in the system under test (SUT).
Test: A sequence of input patterns applied to the SUT to stimulate potential faults and observe erroneous outputs.
Generation: The process of algorithmically creating effective test patterns that can detect the presence of modeled faults with high probability.

3.核心目标与技术内涵：故障测试生成的核心目标是自动产生一组高效、紧凑的测试向量（Test Vectors），这些向量能够：

4.主要方法：故障测试生成技术多种多样，主要包括：

基于算法的生成 (Algorithmic Generation):
- D算法 (D-Algorithm): 经典的确定性算法，使用D立方（D-Cubes）表示故障效应和传播条件，通过一致性操作和蕴涵求解测试向量。 (参考： IEEE Transactions on Computers, 经典文献)
- PODEM (Path-Oriented Decision Making): 一种高效的基于分支限界的算法，通过回溯搜索输入空间，寻找能激活和传播故障的赋值。 (参考： IEEE Design & Test of Computers, 经典文献)
- FAN (Fanout-Oriented Test Generation): 改进了PODEM，更有效地处理扇出点，减少回溯次数。 (参考： Proceedings of the IEEE International Test Conference)
基于模型的生成 (Model-Based Generation): 利用电路的结构模型（门级网表、RTL描述）和故障模型（如固定型故障、跳变故障、路径延迟故障）进行形式化分析或仿真。
伪随机测试生成 (Pseudo-Random Test Generation): 使用线性反馈移位寄存器（LFSR）或其他随机数发生器产生大量伪随机测试向量，通常结合测试点插入（Test Point Insertion）或混合方法使用以提高故障覆盖率。 (参考： VLSI Test Principles and Architectures 书籍)
基于仿真的生成 (Simulation-Based Generation): 利用逻辑仿真器评估候选测试向量对故障的检测能力，常用于补充或验证其他方法的结果。

5.应用场景：故障测试生成是以下环节不可或缺的部分：

制造测试 (Manufacturing Test): 生成用于ATE（自动测试设备）的测试程序，筛选出制造缺陷导致的坏芯片。
设计验证 (Design Verification): 辅助验证设计功能正确性，确保设计实现满足规格。
可测试性设计 (Design for Testability - DFT): 如扫描设计（Scan Design）中，测试生成是生成扫描测试向量的核心步骤。 (参考： IEEE Standard 1149.1 (JTAG) 相关文档及DFT教材)
系统级测试与诊断 (System-Level Test and Diagnosis): 应用于板级或系统级故障检测与定位。

故障测试生成是指通过系统化方法或算法，生成能够有效检测系统/设备故障的测试用例或测试序列的过程。其核心目标是提前发现潜在缺陷，验证系统的容错性和恢复能力。以下是详细解析：

定义范畴
故障测试生成结合了“故障测试”与“测试生成”两个维度：
- 故障测试（Fault Testing）：通过模拟硬件/软件异常（如网络延迟、内存溢出等），评估系统在故障场景下的表现。
- 测试生成（Test Generation）：生成输入矢量或测试序列，使故障能被激活并传播到可观测输出端。
关键目标
- 故障激活：确保生成的测试用例能触发特定故障。
- 故障传播：使故障效应传递到系统输出，便于检测。

基于模型的生成
通过建立故障模型，将经验归纳为可重复的测试策略。例如：
- 输入型故障模型：模拟非法输入组合以验证异常处理能力。
- 数字电路测试：生成输入矢量定位短路、断路等物理缺陷。
自动化算法
- 混沌工程：在生产环境中随机注入故障（如终止实例），观察系统自愈能力。
- 多次脉冲法：在电缆检测中自动生成故障波形，精准定位高阻故障。
动态验证技术
- 压力测试：模拟高负载场景，结合性能瓶颈分析与故障暴露。
- 三次脉冲法：通过不同延时脉冲自动判距，提升测试效率。

如需进一步了解特定领域（如电缆检测算法或混沌工程实践），可参考来源网页的完整内容。