故障測試生成英文解釋翻譯、故障測試生成的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 fault test generation

breakdown; fault; hitch; malfunction; stoppage; trouble
【計】 booboo; F; failure; fault; malfunction
【化】 malfunction
【經】 breakdown; trouble

【計】 test generation

故障測試生成（Fault Test Generation）是電子工程和計算機科學領域，特别是在集成電路（IC）測試和數字系統驗證中的一項關鍵技術。其核心含義如下：

1.中文術語解析：

故障 (Gùzhàng / Fault): 指硬件系統（如芯片、電路闆）或軟件系統中存在的缺陷或異常狀态，這些缺陷可能導緻系統功能失效或性能下降。在數字電路測試中，通常指制造缺陷（如短路、開路、晶體管故障）在邏輯功能上表現出的錯誤模型，如固定型故障（Stuck-at Fault）。
測試 (Cèshì / Test): 指施加特定的輸入信號序列（測試向量/Test Vectors）到被測系統，并觀察其輸出響應，以判斷系統是否存在故障或功能是否正常的過程。
生成 (Shēngchéng / Generation): 指自動或半自動地創建、推導、設計出滿足特定目标（如檢測特定故障）的測試輸入序列的過程。

2.英文對應概念：

Fault: A physical defect or an incorrect logical behavior modeled in the system under test (SUT).
Test: A sequence of input patterns applied to the SUT to stimulate potential faults and observe erroneous outputs.
Generation: The process of algorithmically creating effective test patterns that can detect the presence of modeled faults with high probability.

3.核心目标與技術内涵：故障測試生成的核心目标是自動産生一組高效、緊湊的測試向量（Test Vectors），這些向量能夠：

4.主要方法：故障測試生成技術多種多樣，主要包括：

基于算法的生成 (Algorithmic Generation):
- D算法 (D-Algorithm): 經典的确定性算法，使用D立方（D-Cubes）表示故障效應和傳播條件，通過一緻性操作和蘊涵求解測試向量。 (參考： IEEE Transactions on Computers, 經典文獻)
- PODEM (Path-Oriented Decision Making): 一種高效的基于分支限界的算法，通過回溯搜索輸入空間，尋找能激活和傳播故障的賦值。 (參考： IEEE Design & Test of Computers, 經典文獻)
- FAN (Fanout-Oriented Test Generation): 改進了PODEM，更有效地處理扇出點，減少回溯次數。 (參考： Proceedings of the IEEE International Test Conference)
基于模型的生成 (Model-Based Generation): 利用電路的結構模型（門級網表、RTL描述）和故障模型（如固定型故障、跳變故障、路徑延遲故障）進行形式化分析或仿真。
僞隨機測試生成 (Pseudo-Random Test Generation): 使用線性反饋移位寄存器（LFSR）或其他隨機數發生器産生大量僞隨機測試向量，通常結合測試點插入（Test Point Insertion）或混合方法使用以提高故障覆蓋率。 (參考： VLSI Test Principles and Architectures 書籍)
基于仿真的生成 (Simulation-Based Generation): 利用邏輯仿真器評估候選測試向量對故障的檢測能力，常用于補充或驗證其他方法的結果。

5.應用場景：故障測試生成是以下環節不可或缺的部分：

制造測試 (Manufacturing Test): 生成用于ATE（自動測試設備）的測試程式，篩選出制造缺陷導緻的壞芯片。
設計驗證 (Design Verification): 輔助驗證設計功能正确性，确保設計實現滿足規格。
可測試性設計 (Design for Testability - DFT): 如掃描設計（Scan Design）中，測試生成是生成掃描測試向量的核心步驟。 (參考： IEEE Standard 1149.1 (JTAG) 相關文檔及DFT教材)
系統級測試與診斷 (System-Level Test and Diagnosis): 應用于闆級或系統級故障檢測與定位。

故障測試生成是指通過系統化方法或算法，生成能夠有效檢測系統/設備故障的測試用例或測試序列的過程。其核心目标是提前發現潛在缺陷，驗證系統的容錯性和恢複能力。以下是詳細解析：

定義範疇
故障測試生成結合了“故障測試”與“測試生成”兩個維度：
- 故障測試（Fault Testing）：通過模拟硬件/軟件異常（如網絡延遲、内存溢出等），評估系統在故障場景下的表現。
- 測試生成（Test Generation）：生成輸入矢量或測試序列，使故障能被激活并傳播到可觀測輸出端。
關鍵目标
- 故障激活：确保生成的測試用例能觸發特定故障。
- 故障傳播：使故障效應傳遞到系統輸出，便于檢測。

基于模型的生成
通過建立故障模型，将經驗歸納為可重複的測試策略。例如：
- 輸入型故障模型：模拟非法輸入組合以驗證異常處理能力。
- 數字電路測試：生成輸入矢量定位短路、斷路等物理缺陷。
自動化算法
- 混沌工程：在生産環境中隨機注入故障（如終止實例），觀察系統自愈能力。
- 多次脈沖法：在電纜檢測中自動生成故障波形，精準定位高阻故障。
動态驗證技術
- 壓力測試：模拟高負載場景，結合性能瓶頸分析與故障暴露。
- 三次脈沖法：通過不同延時脈沖自動判距，提升測試效率。

如需進一步了解特定領域（如電纜檢測算法或混沌工程實踐），可參考來源網頁的完整内容。