
【电】 trapatt diode
capture; seize
【计】 trap; trapping
【化】 capture
diode
【化】 diode
俘获二极管(Capture Diode)是一种具备载流子俘获功能的半导体器件,其核心机理是通过晶格缺陷或掺杂形成的陷阱能级暂时捕获电子或空穴,从而改变器件导电特性。该术语在IEEE标准315-1975中被归类为"非通用工程术语",通常出现在辐射探测器件和光电传感器等特殊应用领域。
从结构原理分析,俘获二极管与传统PN结二极管的主要差异在于其禁带中引入的深能级缺陷。这些缺陷中心能够俘获载流子形成空间电荷区,根据美国物理联合会《应用物理评论》刊载的研究,这种特性使其在低噪声放大电路中表现出独特的弛豫时间调控能力。
在工程实践中,俘获二极管主要应用于两类场景:
英国剑桥大学出版的《半导体器件物理》指出,该器件的反向恢复时间较常规二极管延长2-3个数量级,这种特性使其在脉冲整形电路中具有不可替代性。需要特别说明的是,俘获二极管的中英文术语对应关系尚存争议,日本电子情报技术产业协会(JEITA)在2019年技术白皮书中建议采用"Trapping Diode"作为更准确的英文翻译。
"俘获二极管"的英文对应术语为"TRAPATT diode"(Trapped Plasma Avalanche Triggered Transit Diode),属于一种特殊类型的半导体器件。以下是相关信息梳理:
基本定义 俘获二极管是电子工程领域的专业术语,其核心特性与等离子体俘获效应和雪崩击穿触发有关。与普通二极管单向导电性不同,它主要用于高频信号生成领域。
技术特点
应用场景 主要用于:
注:由于搜索结果中仅有提供直接术语对照,且标注为低权威性资料,建议在实际工程应用中参考IEEE标准文档或专业电子器件手册获取更详细参数。普通二极管的基础原理可参考权威资料。
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