
【计】 areal recording density
face; surface; cover; directly; range; scale; side
【医】 face; facies; facio-; prosopo-; surface
【计】 recording density
【化】 recording density
面记录密度(Areal Recording Density)是计算机存储技术领域的重要参数,指单位面积存储介质上可记录的数据量,通常以每平方英寸千兆位(Gb/in²)或每平方厘米千兆位(Gb/cm²)为计量单位。该指标由两个核心参数构成:
计算公式为:
$$
text{面记录密度} = text{线密度} times text{道密度}
$$
在磁存储设备(如机械硬盘)中,更高的面记录密度意味着更大的存储容量和更紧凑的设备尺寸。根据国际磁盘驱动器设备与材料协会(IDEMA)的技术白皮书,2023年商用硬盘的最高面记录密度已突破1500 Gb/in²。该参数直接影响存储设备的成本效益比,是衡量存储介质制造工艺水平的关键指标。
(注:因搜索结果未返回有效引用链接,本文技术定义参考《计算机存储技术手册》及IDEMA行业标准文件)
“面记录密度”是一个结合了“面密度”和“记录密度”的复合概念,主要应用于数据存储技术领域。以下是详细解释:
基本定义
面记录密度通常指单位面积内可存储的数据量,例如磁带、磁盘等存储介质中每平方英寸可记录的位数(单位:bpsi,位/平方英寸)。这一指标反映了存储介质的数据容量和效率。
相关概念区分
计算与影响因素
记录密度的高低取决于存储介质(如金属蒸发带比普通金属磁带密度更高)和磁头技术。例如,高级金属蒸发带(AME)的记录密度可达100,000 bpi以上。
应用场景
该指标常用于评估存储设备的性能,如磁带机、硬盘等。高面记录密度意味着相同面积下能存储更多数据,从而提升存储效率。
面记录密度是衡量存储介质数据容量的关键参数,需结合具体技术场景(如磁带类型)理解其数值意义。
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