低电容探针英文解释翻译、低电容探针的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 low-capacitance probe

分词翻译：

低的英语翻译：

hang down; low; lowness
【医】 hyp-; hypo-

电容的英语翻译：

capacitance; electric capacity
【计】 C
【化】 capacitance; capacity; electric capacity
【医】 capacitance; electric capacity

探针的英语翻译：

bougie; probe; stylet
【计】 needle
【化】 probe
【医】 probe

专业解析

低电容探针（Low Capacitance Probe）是一种专门设计的电子测试探头，其核心特征在于具有极低的输入电容（通常在1 pF至10 pF范围内）。这种设计使其特别适用于测量高频信号或高阻抗电路，能够显著减少探头本身对被测电路造成的电容性负载效应（Loading Effect），从而最大限度地保证测量信号的保真度和准确性。在高速数字电路、射频电路、示波器测量等场景中，低电容探针是获取真实信号波形的关键工具。其英文术语直接反映了这一核心特性：Low（低）Capacitance（电容）Probe（探针）。

工作原理与设计优势

传统探头的输入电容可能高达数十甚至上百皮法（pF）。当连接到被测电路时，这个电容会与电路中的电感和电阻形成额外的负载网络，导致信号失真（如边沿变缓、振铃现象）或频率响应衰减。低电容探针通过优化内部结构（如使用特殊屏蔽技术、微型元件、有源场效应晶体管（FET）缓冲放大器等）和尖端材料，将输入电容降至极低水平。例如，有源探头（Active Probe）常利用高输入阻抗、低输出阻抗的FET放大器作为缓冲，既实现了低电容（可低至0.5 pF），又维持了高输入电阻（通常1 MΩ以上），大幅降低了对被测电路的影响。

关键应用场景

高频信号测量：在射频（RF）、微波或高速数字信号（如GHz级时钟、高速串行链路）测试中，探头电容会构成低通滤波器，衰减高频分量。低电容探针能扩展带宽，确保精确捕获快速上升沿和细节。
高阻抗电路测试：如晶体振荡器、压控振荡器（VCO）、高阻传感器接口等。探头电容会显著改变这些电路的谐振频率或工作点，低电容设计能最小化干扰。
精密时序测量：在数字系统调试中，低电容探针减少信号边沿的畸变，确保建立/保持时间、时钟抖动等关键参数的测量精度。
小信号测量：微弱信号易受负载影响，低电容探针有助于保持信号完整性。

权威参考来源

Keysight Technologies (是德科技)：作为测试测量领域的领导者，Keysight在其《探头基础》指南中详细阐述了探头负载效应，并强调低电容设计对高频测量的必要性。其有源探头系列（如N7020A）即以此为核心特性。
Tektronix (泰克)：泰克的应用笔记《探头ABCs》系统介绍了探头原理，指出电容负载是高频测量的主要限制因素，并解释其低电容有源探头（如TPP系列）如何解决此问题。
IEEE Standards & Literature：在高速电路设计（如IEEE Std 1149.1, 1149.6）和信号完整性分析的学术文献中，低电容探针被广泛推荐用于精确表征互连和器件性能。
Fluke Corporation (福禄克)：在其精密测量文档中，强调低电容探头在避免电路负载和确保测量可靠性方面的重要性，尤其在敏感电子设备诊断中。

网络扩展解释

“低电容探针”是电子测量领域的一种专用工具，其核心特点是通过降低探针本身的电容值，减少对被测电路的干扰，尤其适用于高频或高阻抗环境下的信号测量。以下为详细解释：

基本定义与结构
低电容探针（Low-Capacitance Probe）由金属尖端、绝缘材料和内部电路构成。其设计重点在于通过减小探针与被测点的接触面积、采用低介电常数材料等方式降低输入电容（通常为几个皮法级别），从而避免传统探针因电容过高导致信号衰减或电路负载效应。
核心原理与优势
- 电容影响：高电容会引入寄生电容，改变高频电路的谐振特性或导致信号失真。低电容探针通过结构优化（如尖端针状金属设计）和内置放大器，既减少对被测电路的影响，又增强信号传输的保真度。
- 应用场景：常用于测量晶振输出、射频电路、高速数字信号等对电容敏感的场合。
技术分类
根据的说明，低电容探针可分为：
- 无源型：仅通过物理结构降低电容，成本较低但信号易衰减。
- 有源型：内置放大器，主动补偿信号损失，适合微弱或高频信号测量。

低电容探针通过电容优化设计，解决了传统探针在精密测量中的干扰问题，是电子测试领域的重要工具。如需更深入的电路原理或型号参数，可参考电子工程专业文献或仪器手册。