
【計】 ohmic leakage
在電子工程領域,"漏電阻"(英文:Leakage Resistance)指實際電路中非理想絕緣介質或器件内部存在的微小電流通路所等效的電阻值。它表征了絕緣材料或器件在正常工作電壓下阻止電流洩漏能力的強弱,是評估絕緣性能和器件質量的關鍵參數之一。
物理本質
理想絕緣體電阻應為無窮大,但實際材料因雜質、缺陷或溫度效應會形成微弱導電通道。漏電阻 ( R{text{leak}} ) 即該通路的等效電阻,其值通常遠大于工作負載電阻(例如兆歐級)。計算公式為:
$$ R{text{leak}} = frac{V}{I{text{leak}}} $$
其中 ( V ) 為施加電壓,( I{text{leak}} ) 為洩漏電流。
電路模型中的角色
在電容器、晶體管等器件的等效電路中,漏電阻常以并聯形式存在(見圖1)。例如電容等效模型包含:
該參數直接影響器件的儲能效率與信號完整性。
對系統性能的影響
權威定義參考:
根據《電子工程術語标準》(IEEE Std 100),漏電阻被定義為“在特定條件下,絕緣介質或隔離器件兩端呈現的直流電阻,用于量化非理想隔離特性”。該标準由電氣電子工程師學會(IEEE)發布,詳見 IEEE Xplore術語庫。
漏電阻(也稱為絕緣電阻)是電容器或其他電氣元件中用于衡量絕緣性能的關鍵參數。以下是詳細解釋:
漏電阻指電容器兩極闆之間介質的電阻值,反映電介質阻止漏電流的能力。理想情況下,電容兩極間電阻應為無限大,但實際介質存在微小導電性,導緻電阻為有限值(如數百千歐至兆歐級)。
漏電阻可通過公式計算: $$ R{text{leak}} = frac{U}{I{text{leak}}} $$ 其中,( U )為施加的直流電壓,( I_{text{leak}} )為漏電流。漏電阻越大,漏電流越小,絕緣性能越好。
實際電容器可等效為理想電容與漏電阻的并聯電路。漏電阻的存在會導緻電容存儲的電荷逐漸流失,影響電路穩定性。
漏電阻是評估電氣元件絕緣性能的核心指标,需在設計和選型時優先考慮高漏電阻的元件以确保系統可靠性和安全性。
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