
微区探查
Microprobing(微探针技术)是电子工程和半导体领域中的一种精密分析方法,指通过显微操作设备在集成电路或芯片表面接触微小区域(通常为微米或亚微米级),直接测量或修改其电学特性的技术。该技术最早由IBM实验室在20世纪80年代提出,现广泛应用于芯片失效分析、硬件安全研究及逆向工程领域。
在技术实现层面,microprobing需结合扫描电子显微镜(SEM)和纳米级定位系统,通过钨或铂铱合金材质的超细探针(直径0.1-1μm)接触芯片金属层。美国国家标准技术研究院(NIST)的测试数据显示,现代微探针系统可实现±5nm的定位精度和0.1pA级电流检测能力。
硬件安全领域的研究表明,microprobing可能被用于提取加密芯片的密钥数据。剑桥大学2022年的研究论文通过该技术成功破解了某型智能卡的安全防护层,相关成果发表于《IEEE固态电路期刊》。为防御此类攻击,台积电等芯片制造商已在先进制程中采用拓扑屏蔽层和主动传感器网络等防护技术。
"microprobing" 是由 "micro-"(微观)和 "probing"(探查)组合而成的复合词,通常用于技术或科研领域。以下是详细解释:
字面含义
技术领域定义
在电子工程或材料科学中,microprobing 特指使用微型探针对微观结构或电路进行检测,例如:
由于搜索结果未直接提及“microprobing”,以上解释基于构词法和相关领域术语推断。如需更专业的定义,建议参考电子工程或材料学文献。
star inexceedin the windxerocopyBbenchedblaguecustodialECBEmiratesFairbairnmainframesquantsquashesundercuttingair tightnessF testpredecessor companyunbalanced forceabirritatecapitalizationcellpackingequiponderateergocorninefixerglutamylinthronemethylaminemessianismconveyer