
【計】 semiconductor doping
semiconductor
【計】 quasi-conductor; SC
【化】 semiconductor
【醫】 semiconductor
*****erate; *****eration; intermingle
【計】 doping
【化】 *****eration; dope; doping
【醫】 *****eration
半導體摻雜(Semiconductor Doping)是指通過向純淨半導體材料(如矽、鍺)中引入特定雜質元素,人為調控其導電性能的技術過程。該操作通過改變半導體晶格結構中的載流子濃度,實現材料從本征半導體向P型或N型半導體的轉化。
從技術實現角度,摻雜可分為兩類:
摻雜濃度遵循質量作用定律,其電導率變化可通過公式表達: $$ sigma = q(nmu_n + pmu_p) $$ 其中σ為電導率,q為電荷量,n/p分别代表電子和空穴濃度,μ為遷移率。
該技術在現代電子器件中具有基礎性作用,包括:
行業标準通常将摻雜濃度劃分為輕摻雜(10¹⁵/cm³)、中摻雜(10¹⁷/cm³)和重摻雜(10¹⁹/cm³)三個等級,不同濃度對應器件特性的差異化應用場景。
半導體摻雜是指在本征半導體(如矽、鍺)中人為摻入微量特定雜質元素,以改變其導電性能的工藝過程。以下是詳細解釋:
定義
通過向純淨半導體晶格中添加三價(如硼)或五價(如磷)元素,形成空穴或自由電子,從而顯著提升導電能力。摻雜後的半導體稱為非本征半導體(或雜質半導體)。
目的
類型 | 摻雜元素 | 載流子來源 | 導電特性 |
---|---|---|---|
P型 | 三價元素(硼、铟) | 形成空穴(正電荷) | 空穴為多數載流子 |
N型 | 五價元素(磷、砷) | 釋放自由電子 | 電子為多數載流子 |
如需進一步了解具體摻雜工藝或器件應用,可參考半導體物理教材或專業文獻。
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