扫描线宽英文解释翻译、扫描线宽的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 trace width

分词翻译：

扫描线的英语翻译：

【计】 sweep trace

专业解析

在电子显微技术和成像领域，"扫描线宽"（Scanning Line Width）指电子束或探针在样品表面进行单次线扫描时的物理宽度。该参数直接影响成像分辨率、信号采集精度及分析深度，是表征扫描系统性能的核心指标之一。以下是专业角度的分层解析：

一、物理定义与技术意义

1. 束斑直径

   扫描线宽本质是聚焦电子束的束斑直径（Beam Spot Diameter）。当电子束经电磁透镜聚焦后，其在样品表面形成的照射区域横向尺寸即为线宽值。

   来源：经典教材《Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis》第三版（Springer出版）

2. 分辨率限制

   根据瑞利判据，扫描线宽决定系统理论分辨率极限。线宽越小，可分辨的样品细节越精细（如半导体缺陷检测需亚纳米级线宽）。

   来源：中国国家标准 GB/T 30067-2013《微束分析术语》

二、关键影响因素

1. 电子光学系统性能

   电磁透镜的像差校正能力（尤其是球差、色差）直接制约最小可达成线宽。现代场发射电镜（FE-SEM）通过冷场发射源可将线宽降至0.4 nm以下。

   来源：IEEE Transactions on Electron Devices (DOI: 10.1109/TED.2020.3045814)

2. 工作参数调节

   加速电压、束流强度、工作距离（WD）均会改变实际线宽。例如高加速电压可减小电子束扩散，但可能增加样品损伤风险。

   来源：美国材料与试验协会标准 ASTM E986-04(2020)

三、工业应用场景

• 集成电路检测：线宽≤3 nm的扫描系统用于7 nm以下制程芯片的缺陷定位，需配合低电压模式避免器件击穿。
• 纳米材料表征：碳纳米管、量子点等材料的形貌分析要求线宽值低于特征结构尺寸（通常<5 nm）。
• 生物样品成像：冷冻电镜技术中，优化线宽可提升蛋白质结构的三维重构精度。

  综合来源：《Journal of Applied Physics》第128卷，第110901号综述（2020年）

权威文献参考

1. Reimer, L., & Kohl, H. (2008). Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer. DOI:10.1007/978-0-387-40052-6
2. 中华人民共和国国家标准. GB/T 30067-2013《微束分析 扫描电子显微术 术语》.
3. Goldstein, J. et al. (2017). Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Springer. ISBN 978-1-4939-6676-9

（注：链接均指向出版社官方DOI或ISBN页面，确保来源可验证性）

网络扩展解释

扫描线宽的含义因应用领域不同而有所差异，以下是主要解释：

1. 传真机/扫描仪领域
   指设备能扫描的文稿最大宽度，通常为210mm或252mm。例如，支持A4纸的扫描宽度为216mm，B4纸则为257mm。该参数直接影响设备价格和处理能力。

2. 计算机图形学
   在扫描线算法中，线宽指扫描线移动的距离（即相邻两条扫描线间的垂直间隔），用于计算几何图形覆盖区域面积时的纵向跨度。

3. 传感器技术
   如ZLDS200激光传感器中，扫描宽度指激光扇形区域在测量范围内的横向覆盖长度，即与传感器平行的有效探测范围。

4. 显示与绘图技术
   涉及线条绘制时的物理宽度表现，例如显示器带宽计算中的水平像素点数总和，或绘图编程中通过像素段控制实现的线宽（如45°斜线宽度为水平线的1/√2）。

5. 电子工程术语
   英文对应"trace width"，特指电路板布线或信号轨迹的物理宽度。

注：具体定义需结合上下文场景，显示技术和编程实现中的线宽多与像素处理相关，而硬件设备参数则侧重物理尺寸。

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