高壓電子顯微鏡英文解釋翻譯、高壓電子顯微鏡的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 high voltage EM

分詞翻譯：

高壓的英語翻譯：

high-handed; high pressure; high voltage
【醫】 high tension; hyperpiesia; hyperpiesis

電子顯微鏡的英語翻譯：

【化】 electron microscope
【醫】 electron microscope

專業解析

高壓電子顯微鏡（High-Voltage Electron Microscope, HVEM）是一種利用高能電子束（通常加速電壓在200千伏至3000千伏之間）對材料進行高分辨率成像和分析的大型科學儀器。其核心原理是通過高壓電場加速電子，使其穿透能力顯著增強，從而適用于觀察較厚的樣品（如金屬、陶瓷、生物組織切片等），同時減少電子散射帶來的圖像失真。

從技術參數看，HVEM的加速電壓範圍遠超常規透射電鏡（80-200千伏），例如日本大阪大學的HVEM設備最高可達3兆伏。高電壓帶來的優勢包括：1. 電子波長更短，理論分辨率可達0.1納米；2. 穿透厚度提升5-10倍，金屬樣品可觀測至微米級；3. 動态觀察能力增強，可捕捉材料在高溫、拉伸等極端條件下的實時結構變化。

在應用領域方面，該設備被廣泛用于：

材料科學：解析金屬晶體缺陷（如位錯、晶界）的原子排列特征
納米技術：表征量子點、碳納米管的微觀形貌
生命科學：觀測病毒顆粒及細胞器的三維超微結構
地質學：分析隕石和礦物中的納米級包裹體

根據美國國家标準技術研究院（NIST）的技術報告，現代HVEM已整合能譜儀（EDS）和電子能量損失譜儀（EELS），實現化學成分與電子結構同步分析。英國劍橋大學卡文迪許實驗室的研究表明，結合冷凍制樣技術後，HVEM在生物大分子成像中可達到近原子級分辨率（約0.2納米）。

網絡擴展解釋

高壓電子顯微鏡（High-Voltage Electron Microscopy, HVEM）是一種特殊類型的透射電子顯微鏡（TEM），其核心特點在于顯著提升的加速電壓。以下是詳細解釋：

1.定義與電壓範圍

普通透射電鏡（CTEM）的加速電壓通常在50–200 kV，而高壓電鏡的電壓範圍擴展至200–1000 kV。當電壓超過500 kV 時稱為高壓電鏡（HVEM），超過1000 kV（即1 MV）則歸類為超高壓電鏡。

2.技術特點

穿透力強：高電壓使電子束能量更高，可穿透更厚的樣品（如生物切片厚度可達1 μm，是普通TEM的10倍），減少對樣品的損傷。
分辨率提升：高能電子束能降低色差，提高成像分辨率，尤其適合觀察複雜結構或緻密材料。

3.應用領域

生物學：用于觀察較厚的細胞切片，減少染色體畸變風險，研究細胞三維結構。
材料科學：分析金屬、陶瓷等材料的微觀缺陷、相變及高壓環境下的性質（需注意：部分文獻提到的“高壓環境”可能涉及另一類設計，需結合具體設備區分）。

4.與普通電鏡的對比

普通電子顯微鏡放大倍數可達幾十萬倍，而高壓電鏡在保持高分辨率的同時，通過增強穿透力擴展了適用樣品範圍。

如需進一步了解具體型號或技術細節，可參考相關專業文獻或設備說明。