
【化】 powder pattern simulation
dust; farina; powder
chart; drawing; fig.; map; plot; picture; intention; attempt; plan
【計】 diagram; graphtyper
【化】 diagram
【醫】 chart; column diagram; diagram; graph; map; picture; schema; scheme
sheet
draft; draw up; imitate; plan
【醫】 para-
add up to; be equal to; close; combine; join; proper; shut; suit; whole
【醫】 con-; sym-; syn-
粉末圖拟合(Powder Pattern Fitting)是一種材料科學和化學分析中常用的技術手段,主要用于解析多晶材料的X射線衍射(XRD)或中子衍射數據。以下從漢英詞典角度對其詳細解釋:
指多晶樣品在衍射實驗中産生的衍射圖譜。由于樣品為隨機取向的微晶(粉末狀),衍射峰呈現連續分布特征(來源:國際晶體學聯盟《衍射标準術語》)。
指通過數學模型(如Rietveld法)調整參數,使理論計算曲線與實驗數據最大限度匹配的過程(來源:Peiser H S, et al. X-ray Diffraction by Polycrystalline Materials)。
粉末圖拟合是通過建立晶體結構模型(包含晶格參數、原子坐标、峰形函數等),利用最小二乘法優化模型參數,最終實現:
權威參考文獻:
- Rietveld精修原始論文 DOI: 10.1107/S0021889869006558
- 國際衍射數據中心(ICDD)技術标準 www.icdd.com
- IUCr晶體學術語詞典 doi.org/10.1107/S002188980001187X
“粉末圖拟合”這一術語需要拆解為“粉末圖”和“拟合”兩部分理解。結合搜索結果和常見科學場景,解釋如下:
在材料科學中,“粉末圖”通常指粉末衍射圖(如X射線衍射/XRD圖譜),用于分析材料的晶體結構。實驗數據表現為一系列衍射峰,每個峰對應材料中特定的晶面間距。
拟合指通過數學模型匹配數據點的過程,目标是找到最優參數使模型與數據差異最小。常用方法如最小二乘法,核心公式為: $$ min sum_{i=1}^n (y_i - f(x_i)) $$ 其中$y_i$為觀測值,$f(x_i)$為模型預測值。
若需具體案例或擴展領域(如中子衍射),建議查閱材料分析專業文獻。
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