
【化】 film theory; membrane theory
薄膜理論(Thin Film Theory)是固體力學和材料科學中的重要概念,指研究厚度遠小于其他維度的薄層結構在載荷作用下力學行為的理論體系。其核心在于通過簡化假設(如忽略法向應力、采用平面應力狀态)建立數學模型,廣泛應用于航空航天、微電子和生物工程等領域。
基本概念
薄膜理論描述厚度(h)遠小于長度/寬度(L)的薄層結構(h/L ≤ 0.1),其力學行為近似為二維平面問題。關鍵假設包括:
控制方程
基于Kirchhoff-Love假設,薄膜平衡方程為:
$$ frac{partial N{xx}}{partial x} + frac{partial N{xy}}{partial y} + px = 0
frac{partial N{yy}}{partial y} + frac{partial N_{xy}}{partial x} + py = 0
$$
其中 $ N{ij} $ 為薄膜力張量,$ p_i $ 為面載荷。
航空航天結構
飛機蒙皮和火箭燃料貯箱采用薄膜理論設計,通過優化曲率分布實現輕量化(如NASA的充氣式太空艙設計)。
微電子器件
半導體芯片中的納米級薄膜(如SiO₂絕緣層)需通過應力分析防止翹曲,理論預測與原子力顯微鏡(AFM)實測誤差<5%。
生物醫學工程
人工血管等柔性植入體的血流-薄膜耦合仿真,采用Wrinkling模型預測動态屈曲行為。
注:鍊接因平台限制未展示,文獻名稱與來源機構可供讀者檢索驗證。
薄膜理論是工程力學和材料科學中的重要概念,主要應用于薄壁結構的應力分析。以下是綜合多個來源的詳細解釋:
薄膜理論指對承受氣體内壓的回轉殼體(如圓柱形、球形容器)進行應力分析,推導出經向應力(縱向)和環向應力(橫向)的計算公式。其核心假設是應力沿殼體厚度方向均勻分布,且忽略彎矩和扭矩,僅考慮薄膜内力。
薄膜理論推導的兩個關鍵應力公式為: $$ sigma{theta} = frac{pR}{t} quad (text{環向應力}) $$ $$ sigma{phi} = frac{pR}{2t} quad (text{經向應力}) $$ 其中,( p )為内壓,( R )為曲率半徑,( t )為殼體厚度。
如需進一步了解公式推導或具體案例,可參考工程力學教材或壓力容器設計手冊。
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