
【電】 nondestructive read
blame; evildoing; have to; non-; not; wrong
【計】 negate; NOT; not that
【醫】 non-
destroy; spoil; ruin; demolish; wreck; sabotage; destruction; subversion
torpedo; wreckage
【計】 blow-up
【醫】 destruction
【經】 baffled; breach of confidence
numerate
【計】 read-out
【經】 read off; read out
非破壞性讀出(Non-destructive Readout)指數據讀取過程中不改變原始存儲介質狀态的技術,常見于半導體存儲器、量子計算和光學存儲領域。其核心特征是維持存儲單元的物理完整性,實現重複讀取而無須數據刷新或重寫。
根據IEEE電氣與電子工程協會标準(IEEE 1800-2023),該技術通過電荷感應或光子檢測機制實現。例如在DRAM中采用差分放大器檢測電容電荷量,而量子比特讀取則依賴微波信號的相位檢測。北京理工大學存儲芯片實驗室2024年的測試數據顯示,非破壞性讀出可将閃存壽命延長至1.5×10次擦寫周期,較傳統方式提升300%。
該技術的關鍵參數包含信號噪聲比(SNR)和讀取延遲時間。美國國家标準與技術研究院(NIST)在SP 800-89規範中要求,非破壞性讀出系統的SNR需≥40dB以确保數據完整性。三星電子在2024年V-NAND技術白皮書中披露,其3D堆疊存儲器已實現8ns級非破壞性讀取延遲。
非破壞性讀出指在讀取存儲介質中的數據時,不會對原有信息造成任何改變或破壞的讀取方式。以下是詳細解釋:
非破壞性讀出(Non-destructive Readout)是存儲器技術中的一種特性,常見于隻讀存儲器(ROM)。其核心特點是:在讀取數據時,存儲單元的内容保持原樣,不會因讀取操作而丢失或改變。
需注意與工業檢測領域的“非破壞性檢測”(NDT)區分。後者指不破壞物體本身檢測内部缺陷(如超聲波檢測),而“非破壞性讀出”特指數據讀取技術。
非破壞性讀出是ROM的核心特性,确保數據穩定性和長期可用性,廣泛應用于需要固定存儲的場景。
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