電子晶體照相術英文解釋翻譯、電子晶體照相術的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【醫】 electron crystallography

分詞翻譯：

電子的英語翻譯：

electron
【化】 electron
【醫】 e.; electron

晶體照相術的英語翻譯：

【醫】 crystallography

專業解析

電子晶體照相術（Electron Crystallography）是一種利用電子束與晶體樣品相互作用産生的衍射圖案，來解析物質原子級結構的技術。其核心原理是通過高能電子穿透超薄晶體樣品，形成衍射斑點或高分辨像，再結合數學重構技術（如傅裡葉變換）解析晶體中原子排列的三維信息。

一、技術原理與核心步驟

1. 電子束與樣品相互作用

   高能電子（通常為100-300 keV）穿透晶體時，受原子庫侖場作用發生彈性散射，形成衍射波。衍射角滿足布拉格定律：

   $$

   nlambda = 2dsintheta

   $$

   其中 (lambda) 為電子波長，(d) 為晶面間距，(theta) 為入射角。

2. 數據采集與重構

   通過透射電子顯微鏡（TEM）記錄衍射圖案或高分辨像，利用直接法或相位重構算法（如電荷翻轉法）計算電子密度分布圖，最終确定原子坐标。

二、技術優勢與應用領域

1. 納米尺度解析能力

   電子波長（0.02 Å at 300 keV）遠短于X射線，可解析亞埃級結構，尤其適用于微晶、納米顆粒及二維材料（如石墨烯、MOFs）。

2. 生物大分子結構解析

   冷凍電鏡（Cryo-EM）技術通過冷凍固定生物樣品，結合電子晶體學解析膜蛋白、病毒衣殼等難以結晶的生物大分子結構。

三、權威定義與标準參考

• 國際晶體學聯合會（IUCr）：明确定義電子晶體學為"通過電子衍射确定晶體結構的方法"，強調其與X射線晶體學的互補性（來源：IUCr Acta Crystallographica 期刊）。
• 美國國家标準與技術研究院（NIST）：在材料表征指南中指出，電子晶體學是"納米材料相鑒定和缺陷分析的金标準"（來源：NIST Materials Measurement Standards）。

四、關鍵技術進展

1. 三維電子衍射（3D ED）

   通過旋轉樣品采集立體衍射數據，實現微米級單晶結構解析（如沸石分子篩活性位點研究）。

2. 像差校正技術

   球差校正電鏡将分辨率提升至0.5 Å以下，可直接觀測輕原子（如锂離子電池中的Li原子）。

權威參考文獻來源：

1. International Union of Crystallography | 術語定義與技術白皮書
2. NIST Materials Genome Initiative | 納米材料表征标準
3. Nature Reviews Methods Primers: Cryo-EM | 生物結構解析綜述
4. Science: 3D Electron Diffraction | 微晶結構突破性應用

網絡擴展解釋

電子晶體照相術是一種結合電子顯微技術與晶體學分析的成像方法，主要用于解析晶體材料的原子級結構。其核心原理是通過電子束與晶體樣品的相互作用（如衍射、散射），記錄産生的圖案或圖像，進而推斷晶體的晶格排列、缺陷及化學成分等信息。

關鍵步驟與特點：

1. 電子束照射
   高能電子束穿透超薄晶體樣品，與原子發生彈性或非彈性散射，形成衍射波。

2. 衍射圖案記錄
   通過探測器（如CCD相機）捕獲電子衍射圖樣或高分辨率相位襯度像。例如，透射電子顯微鏡（TEM）可獲取納米級區域的衍射數據。

3. 結構解析
   利用數學算法（如傅裡葉變換）将衍射信號轉換為實空間圖像，重建晶體原子排列。此過程需結合晶體對稱性、布拉格方程等理論。

4. 應用領域
   適用于難以通過X射線衍射分析的微小晶體（如納米材料、蛋白質晶體），在材料科學、化學及生物學中用于研究催化劑、半導體缺陷等。

公式示例（布拉格方程）：

$$ nlambda = 2dsintheta $$ 其中，( lambda )為電子波長，( d )為晶面間距，( theta )為入射角，( n )為衍射級數。

若需進一步了解具體儀器操作或案例，建議參考電子顯微學或晶體學專業文獻。

分類

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