
【計】 track bit density
【計】 magnetic rack; magnetic track; T; TR
【化】 track
【計】 bit density
【化】 bit density
磁道位密度(Track Bit Density)是計算機存儲技術中的關鍵參數,指在磁盤或磁帶的單一同心圓磁道上,單位長度内可存儲的二進制數據位數。其計算公式為: $$ text{位密度} = frac{text{每磁道數據位數}}{text{磁道周長}} $$ 該指标直接影響存儲介質的數據容量,在硬盤設計中需平衡磁頭定位精度與信號幹擾控制。
根據IEEE存儲技術标準(IEEE Std 1852-2016),現代硬盤的典型位密度已達到200萬位/英寸級别。提升位密度主要通過改進磁記錄材料(如垂直記錄技術)和信號處理算法實現。值得注意的是,位密度與面密度存在直接關聯,面密度計算公式為: $$ text{面密度} = text{道密度} times text{位密度} $$
在工程實踐中,位密度受限于超順磁效應和信噪比要求。西部數據公司2023年技術白皮書顯示,HAMR(熱輔助磁記錄)技術可将位密度提升至3 Tb/in²以上。測試标準參照JEDEC JESD220C規範,要求位密度偏差不超過标稱值的±5%。
磁道位密度(也稱為位密度或線密度)是衡量磁盤存儲能力的重要參數,具體解釋如下:
磁道位密度指在磁道的切線方向(即沿同心圓磁道的周長方向),單位長度内可存儲的二進制位數。例如,若某磁道每英寸可記錄10,000位數據,則位密度為10,000位/英寸(BPI)。
總存儲容量可通過以下公式估算:
$$
存儲容量 = text{磁道數} times text{每磁道位數}
$$
其中,每磁道位數由位密度與磁道周長共同決定。
磁道位密度與存儲技術的發展密切相關。提高位密度需克服磁化單元間的幹擾和磁頭靈敏度等挑戰。現代硬盤通過垂直記錄技術(PMR)或疊瓦式磁記錄(SMR)進一步提升位密度。
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