
【化】 comparison spectroscope
比譜分光鏡(Comparative Spectroscope)是一種用于分析并比較不同光源或物質光譜特性的精密光學儀器。該設備通過棱鏡或光栅系統将複合光分解為單色光譜,并配備比對裝置實現多組光譜的同步觀測與定量分析。
其核心功能包含三方面:(1)采用雙光路設計,可同時投射待測樣本與參考标準的光譜;(2)内置波長标定模塊,支持400-700nm可見光波段内的精度測量;(3)配備數字化記錄系統,可通過軟件進行譜線強度比計算。根據《現代光學儀器原理》(科學出版社,2021版)記載,此類儀器在材料成分分析、天體光譜研究及工業質檢領域具有關鍵作用。
技術參數方面,主流設備通常具備0.1nm波長分辨率,配合CCD探測器可實現微秒級響應速度。美國國家标準技術研究院(NIST)2023年發布的《光學計量指南》指出,校準後的設備相對測量誤差可控制在±0.05%以内。使用注意事項包括定期進行汞燈波長校準,以及避免強磁場環境對光栅系統的影響。
“比譜分光鏡”這一術語并非标準光學名詞,但結合“分光鏡”的基本原理和應用場景,可以推測其可能指代以下兩種含義:
分光鏡(Beam Splitter)是一種将入射光按特定比例分為反射光和透射光的光學元件。根據設計不同,反射率與透射率的比例可調整(如50/50、70/30等)。
部分場景中,“分光鏡”可能被誤指為光譜儀(Spectrometer),後者通過棱鏡或光栅分解複色光為光譜,再比較不同波長光的強度(即“比譜”)。
如需更專業的解釋,請提供具體語境或設備名稱。
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