偏光顯微鏡英文解釋翻譯、偏光顯微鏡的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 polarizing microscope

分詞翻譯：

偏的英語翻譯：

deflection; leaning; partial; prejudiced; slanting
【化】 meta-
【醫】 meta-

光的英語翻譯：

light; ray; honour; merely; naked; scenery; smooth
【化】 light
【醫】 light; phot-; photo-

顯微鏡的英語翻譯：

microscope
【化】 microscope
【醫】 microscope

專業解析

偏光顯微鏡（Polarizing Microscope），在中文語境下也稱為偏振光顯微鏡，是一種利用偏振光原理來觀察和分析具有雙折射性質（即各向異性）樣品的精密光學儀器。其核心功能在于通過控制光波的振動方向，揭示樣品在普通顯微鏡下無法觀察到的光學特性與微觀結構細節。

一、核心定義與工作原理偏光顯微鏡在光源路徑上設置了起偏器（Polarizer），将普通光轉換為在單一平面上振動的線偏振光。光線穿過具有雙折射特性的樣品（如礦物晶體、高分子材料、生物纖維等）時，會發生雙折射現象，分裂成振動方向相互垂直的兩束偏振光（尋常光與非尋常光），并産生光程差。隨後，光線通過位于物鏡和目鏡之間的檢偏器（Analyzer），其偏振方向通常與起偏器垂直（正交位置）。此時，隻有被樣品改變偏振狀态的光線分量才能通過檢偏器，形成明暗對比或幹涉色的圖像，從而揭示樣品的内部結構、晶體取向、應力分布等信息。

二、關鍵組件與中英術語對照

起偏器 (Polarizer)：位于光源後，将入射光轉換為線偏振光。
檢偏器 (Analyzer)：位于物鏡上方或目鏡下方，通常可旋轉，用于檢測樣品改變後的偏振光狀态。
旋轉載物台 (Rotating Stage)：可360度旋轉，精确測量樣品的消光角（Extinction Angle）以确定晶體取向。
勃氏鏡 (Bertrand Lens)：位于鏡筒内，可切換使用，用于觀察幹涉圖（幹涉錐Conoscopic Image），對晶體對稱性進行高級分析。
補償器/試闆 (Compensator/Retardation Plate)：如石膏試闆、雲母試闆或石英楔子，用于精确測量樣品産生的光程差（Retardation）。
無應變物鏡 (Strain-Free Objective)：專門設計以減少自身雙折射，避免幹擾樣品觀察。

三、主要應用領域

材料科學：分析金屬合金、陶瓷、半導體、液晶、高分子聚合物（如結晶形态、取向度）的微觀結構與缺陷。
地質礦物學：鑒定岩石薄片中的礦物種類、晶體形态、解理、雙折射率等，是岩相學研究的基石工具。
生物學與醫學：觀察具有雙折射性的生物結構，如澱粉粒、膠原纖維、肌肉橫紋、膽固醇結晶等。
工業檢測：評估玻璃、塑料制品中的殘餘應力分布，質量控制。

四、核心觀測原理 - 雙折射與幹涉色當線偏振光垂直入射到各向異性樣品時，分解為振動方向互相垂直、傳播速度不同的兩束光，産生相位差（光程差 Δ）。此光程差與樣品的雙折射率（Δn）和厚度（d）相關：Δ = Δn * d。通過正交的檢偏器後，這兩束光發生幹涉。觀察到的顔色（幹涉色）與光程差直接對應，可通過Michel-Levy幹涉色表進行定性和半定量分析，是鑒别礦物和材料特性的重要依據。

權威參考來源：

國家标準與技術術語：參考《GB/T 2985-XXXX 生物顯微鏡術語》及光學儀器相關國家标準中關于偏振裝置的描述（中國國家标準化管理委員會）。
專業教材與工具書：《材料分析方法》周玉，機械工業出版社（闡述原理與應用）；《晶體光學及光性礦物學》曾廣策，中國地質大學出版社（礦物鑒定标準方法）。
權威機構資源：中國科學院地質與地球物理研究所實驗室技術平台介紹，高校（如北京大學地球與空間科學學院）岩礦鑒定教學資料。

網絡擴展解釋

偏光顯微鏡是一種通過偏振光特性分析材料光學性質的專業顯微鏡，主要用于觀察具有雙折射性的物質（如晶體、纖維等）。以下從定義、原理、應用及特點進行詳細解釋：

1.定義與基本原理

偏光顯微鏡通過選擇性地控制光的偏振方向來觀察物質的光學特性。其核心在于利用偏振片（起偏器和檢偏器）将普通自然光轉換為偏振光，并分析樣品對偏振光的影響。當光穿過雙折射材料時，會分裂為兩束振動方向不同的偏振光，通過正交偏振片的幹涉效應，可觀察到顔色或亮度變化，從而判斷物質的各向異性（雙折射性）或各向同性（單折射性）。

2.核心結構與工作流程

偏振片配置：光源處安裝起偏器（下偏光片），将自然光轉換為線偏振光；物鏡與目鏡之間設置檢偏器（上偏光片），通常與起偏器方向垂直（正交尼科耳配置）。
觀測原理：當雙折射材料被偏振光照射時，光波分解為兩束并産生相位差，通過檢偏器時發生幹涉，形成明暗或彩色條紋。

3.主要應用領域

材料科學：鑒定礦物、晶體結構及化學成分，例如岩石薄片分析。
生物學：觀察植物細胞壁中的纖維素、澱粉粒及生物結晶結構（如膽固醇晶體）。
工業檢測：在化工、制藥及食品加工中分析油脂、糖類結晶過程。

4.特點與優勢

高靈敏度：可檢測微米級雙折射結構，優于普通染色法。
非破壞性：無需染色或特殊處理，保持樣品原态。
多功能性：支持單偏光、正交偏光及錐光觀察模式。

示例公式（雙折射現象）

當光進入雙折射材料時，分解為尋常光（o光）和非尋常光（e光），其折射率差異可表示為： $$ n_e - n_o = Delta n $$ 其中，( n_e )和( n_o )分别為兩束光的折射率，( Delta n )為雙折射率。

如需進一步了解具體操作步驟或型號參數，可參考來源（化學教學實驗中心）及（觀察方法）。