不一緻電路英文解釋翻譯、不一緻電路的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 anticoincidence circuit

分詞翻譯：

不的英語翻譯：

nay; no; non-; nope; not; without
【醫】 a-; non-; un-

一緻電路的英語翻譯：

【電】 coincidence circuit

專業解析

在電子工程領域，"不一緻電路"指電路的實際性能與設計預期存在偏差，或在特定條件下表現出不穩定的特性。這種不一緻性可能源于元件參數漂移、制造公差、溫度變化或信號完整性等問題，導緻功能異常或可靠性下降。以下是關鍵解析：

一、核心定義與成因

參數失配（Parameter Mismatch）
集成電路中相鄰元件（如晶體管）因制造工藝差異導緻阈值電壓、載流子遷移率等參數不一緻，影響差分放大器、電流鏡等電路的對稱性。

來源：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
時序偏差（Timing Skew）
高速數字電路中，時鐘信號到達不同邏輯單元的延遲差異（時鐘偏移）可能引發競争冒險，造成輸出錯誤。

來源：Intel® FPGA技術文檔

二、典型影響場景

模拟電路：運算放大器輸入失調電壓因溫度漂移增大，降低測量精度。
存儲器電路：存儲單元讀寫阈值不一緻導緻數據誤讀，需糾錯碼（ECC）補償。
射頻系統：阻抗匹配網絡元件容差引發信號反射，增加通信誤碼率。

三、工程應對措施

設計冗餘：采用共模反饋結構抑制失調，或增加時序餘量（Slack）規避時鐘偏差。
校準技術：如ADC/DAC中引入激光修調或數字後台校準算法。
工藝優化：通過器件布局匹配（Common Centroid）降低梯度效應。

案例參考：12位模數轉換器（ADC）中，電容陣列失配超過0.01%将導緻非線性誤差（INL）＞±2LSB，需動态元件匹配（DEM）技術校正。
來源：Baker R J. CMOS: Circuit Design, Layout, and Simulation (Wiley-IEEE Press)

權威參考文獻

網絡擴展解釋

不一緻電路（Anticoincidence Circuit）是電子電路中的一種特殊設計，主要用于檢測輸入信號的非一緻性狀态。以下為綜合解釋：

1. 定義與功能

其核心功能是當多個輸入信號的狀态不一緻時輸出特定信號（如高電平“1”），而在輸入一緻時輸出相反狀态（如低電平“0”）。
英文術語為“anticoincidence circuit”，與“coincidence circuit”（一緻電路）形成互補邏輯關系。

2. 應用場景

常用于邏輯電路比較器，例如檢測兩組二進制碼是否匹配，或用于輻射探測系統中排除背景噪聲。
在數字系統中可作為錯誤檢測模塊，當輸入信號違反預設邏輯關系時觸發告警。

3. 實現原理

典型設計結合邏輯門組合，例如：通過異或門（XOR）檢測輸入差異，再通過後續電路處理差異信號。若輸入A≠B時異或門輸出1，此時不一緻電路可能放大該信號用于後續控制。

注意：由于搜索結果均來自低權威性網頁，建議參考《數字電子技術基礎》等專業書籍獲取更準确的電路圖及真值表。