prober是什麼意思，prober的意思翻譯、用法、同義詞、例句

常用詞典

n. 探測器

Methods: Non-radiative prober is used in hybridization in situ.

方法非放射性探針原位雜交法。

Electroglas has been in wafer prober business for over 40 years.

伊智公司在晶圓探針台領域已經有超過40的年曆史了。

The prober is necessary role in wafer-level analysis of reliability.

在晶圓形式可靠度分析中，承載晶圓的探針台是不可或缺的。

The prober station also positions the optical detector directly over the devices.

探針台也将光探測器定位到器件的正上方。

This paper emphasizingly discusses the design of ant. omatical optimizing trajectory calculation of lunar prober.

着重讨論登月軌道計算的自動尋優設計。

n.|Zond/explorer;[儀][航]探測器

"prober"是電子工程和半導體測試領域的專業術語，主要指用于精密檢測和測試的儀器設備。該詞源于動詞"probe"（探測），在技術語境中特指通過物理接觸或非接觸方式獲取被測對象電學參數的裝置。

在半導體制造中，prober（探針台）是晶圓測試的核心設備，通過精密探針與芯片焊盤接觸，實現集成電路的功能測試和性能分析。根據國際半導體産業協會（SEMI）2024年技術報告，現代prober的定位精度可達±0.5微米，測試頻率覆蓋DC至110GHz。

該設備的技術特征包括：

prober的發展與集成電路小型化趨勢密切相關。英特爾技術白皮書指出，7納米制程芯片測試需要prober具備亞微米級定位能力和抗電磁幹擾設計。當前主流設備制造商包括東京精密、東京電子等日系企業，以及美國Cascade Microtech等專業廠商。

Prober 是一個名詞，主要含義和用法可從以下兩方面解析：

定義：指用于探測、測試或測量電子器件的儀器，尤其在半導體和光電行業中廣泛應用。例如：
- 探針台（Wafer Prober）：用于芯片測試，通過探針接觸晶圓上的微電路進行電性能檢測，常見類型包括手動、半自動、全自動等（如高溫、低溫探針台）。
- 探測器：在深空探測等領域，指執行數據采集的裝置，如深空探測器電源系統設計中的“Prober”。

定義：可指代“探查者”，即使用探測設備進行測試或調查的人員。例如：
- 在電子工程中，操作探針台的技術人員可能被稱為“Prober”。
- 廣義上也可指對問題或現象進行深入調查的人（與動詞probe 相關，如“調查”）。

Prober 的核心含義與“探測”相關，既可指設備（如探針台），也可指執行探測的人或角色。具體釋義需結合上下文，尤其在科技領域更偏向儀器定義。

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