
n. 幹擾顯示器;[光] 幹涉鏡
Interferoscope(幹涉儀)是一種基于光波幹涉原理設計的高精度光學測量儀器,主要用于檢測物體表面的微觀形變、材料均勻性或測量微小位移等。其工作原理基于兩束或多束相幹光波的疊加效應,當光程差發生變化時,幹涉條紋會産生移動,通過分析條紋變化可推導出被測對象的物理參數變化值(美國國家标準與技術研究院,2023)。
該儀器在工程和科研領域有廣泛應用,例如:
典型應用案例包括美國LIGO天文台使用邁克耳孫幹涉儀探測引力波(LIGO實驗室技術白皮書,2021),以及歐盟計量研究計劃開發的白光幹涉儀用于納米級表面形貌測量(歐洲計量創新與研究計劃報告,2022)。現代幹涉儀測量精度可達納米量級,部分型號甚至實現亞納米分辨率(Springer《光學測量技術》專著,2020)。
由于“interferoscope”是一個非常專業的術語且未被廣泛收錄,結合詞根和科學儀器命名規律,可推斷其含義如下:
詞源解釋
推測定義 可能指一種用于觀察、記錄或分析光波、聲波等幹涉現象的儀器。例如:
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