
n. 幹涉法;[光] 幹擾量度法;幹涉量度分析法
Their process is called back-scattering interferometry (BSI).
這一過程被稱為反向散射幹涉法(BSI)。
Optical interferometry is widely used in optical testing.
光學幹涉計量方法在光學測量中有廣泛的應用。
The design method can also apply in Phase-shifting Interferometry.
該設計方法同樣適用于相移幹涉計量術。
The new algorithm can also apply in phase-shifting interferometry.
該新算法也同樣適用于相移幹涉計量。
Relative height accuracy is one of key indexes for SAR interferometry.
相對測高精度是幹涉sar測高性能的重要指标之一。
holographic interferometry
全息幹涉量度學
speckle interferometry
散斑幹涉法;斑紋幹涉學;斑紋幹涉測量術
幹涉測量法(interferometry)是一種基于波動幹涉原理的高精度測量技術,通過分析兩束或多束相幹波的疊加效應來獲取物體的空間、時間或相位信息。該方法在物理學、天文學、工程學和生物醫學等領域具有重要應用。
波動幹涉基礎
幹涉測量依賴于波的疊加特性。當兩列相幹波(如光波、聲波)相遇時,其振幅會因相位差産生增強或抵消的幹涉條紋。通過測量條紋變化,可推導出目标物體的位移、形變或折射率等參數。
超高精度優勢
該方法可實現納米級甚至亞納米級分辨率。例如,激光幹涉儀能檢測小于光波波長(約500納米)的微小位移,被廣泛應用于半導體制造和光學元件檢測。
參考文獻
Interferometry(幹涉測量法)是一種基于波的幹涉現象進行高精度測量的技術,廣泛應用于物理學、天文學、工程學等領域。其核心原理是通過兩束或多束波的疊加産生的幹涉條紋,分析相位差或路徑差,從而獲取被測對象的微小變化信息。
基本原理
當兩列相幹波(如光波、無線電波)相遇時,它們的振幅會疊加。若波程差為波長的整數倍,則相長幹涉(亮條紋);若為半波長的奇數倍,則相消幹涉(暗條紋)。通過測量幹涉條紋的變化,可推算目标參數(如距離、形變、折射率等)。
主要類型
應用領域
$$ Delta L = nlambda quad text{(相長幹涉)} $$ $$ Delta L = (n + frac{1}{2})lambda quad text{(相消幹涉)} $$ 其中,$Delta L$為波程差,$lambda$為波長,$n$為整數。
這一技術因非接觸、高靈敏度的特點,成為現代精密測量不可或缺的工具。
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