[光] 幹涉條紋
For large primary coma aberration, interference fringe presents.
大的初級彗差使焦平面出現幹涉條紋。
The external vibration usually causes the radom movement of interference fringe.
外界擾動常造成幹涉條紋的隨機漂移。
A detection system for counting shift number of interference fringe is established.
在檢測系統中實現了對幹涉條紋移動量的計數。
A kind of laser alignment equipment based on interference fringe has been developed.
介紹了一種基于幹涉條紋的激光準直技術的檢測系統。
The intensity distribution on a screen from dark to bright to dark again is called an interference fringe.
屏幕上的強度分布，從暗到亮再到暗，叫做一條幹涉條紋。
幹涉條紋（Interference Fringe） 是波動光學中的核心概念，指兩列或多列相幹光波在空間疊加時，因相位差導緻的明暗交替分布圖案。其本質是光波幹涉時振幅的增強（相長幹涉）或減弱（相消幹涉）在觀測平面上的直觀體現。
相幹條件
幹涉條紋的産生需滿足頻率相同、振動方向一緻、相位差恒定的相幹波條件。當兩束光滿足這些條件時，其疊加區域會形成穩定的強度分布，即幹涉條紋。
條紋形态與計算
$$
Delta x = frac{lambda D}{d}
$$
其中 $lambda$ 為波長，$D$ 為光源到屏幕距離，$d$ 為雙縫間距（以楊氏雙縫幹涉為例）。
等傾幹涉條紋
由厚度均勻的薄膜産生，條紋呈同心圓環狀（如牛頓環）。入射角相同的反射光形成同一級條紋，常用于檢測透鏡曲率或表面平整度。
等厚幹涉條紋
由楔形空氣膜或油膜産生，條紋平行于薄膜交棱。同一厚度對應同一級條紋，應用于測量微米級厚度差（如光學元件檢測）。
現代技術應用
注：以上鍊接為示例性來源，實際内容需對應權威機構官網或學術平台。
根據權威詞典和物理學領域的解釋，"interference fringe"（幹涉條紋）是由光的幹涉現象産生的明暗相間的條紋圖案。以下是詳細解釋：
定義與物理原理
當兩列或更多相幹光波相遇時，由于相位差導緻的光強疊加或抵消現象，會在空間形成交替的亮帶（相長幹涉）和暗帶（相消幹涉），這些帶狀圖案即為幹涉條紋。其數學表達式為：
$$
I = I_1 + I_2 + 2sqrt{I_1I_2} cos(Delta phi)
$$
其中$Delta phi$為相位差，決定了條紋的明暗分布。
應用場景
幹涉條紋廣泛用于光學測量，如檢測光學元件表面平整度（牛頓環實驗）、測量微小位移（邁克耳孫幹涉儀）以及全息成像技術。
相關術語
發音與用法：英語發音為/ˌɪntərˈfɪərəns frɪndʒ/，作名詞使用。用戶可參考海詞詞典或歐路詞典獲取更多例句及發音細節。
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