
電子顯微鏡
The electron microscope uses a beam of electrons to produce images at high magnifications.
電子顯微鏡利用一束電子産生高倍放大的影像。
When the researchers looked at the seedling tissues under an electron microscope, however, they could see the nanotubes had actually entered living cells.
然而,當研究者在電子顯微鏡下觀察種子組織的時候,他們能夠看到納米管确實已經進入了活細胞。
What's an electron microscope?
什麼是電子顯微鏡?
The image was taken using an electron microscope.
該圖片為電子顯微鏡拍攝。
The China first electron microscope is born in Changchun.
中國第一台電子顯微鏡在長春誕生。
|electron microscopy;[光]電子顯微鏡
電子顯微鏡(Electron Microscope)是一種利用電子束而非可見光來觀察物體超微結構的科學儀器。其分辨率遠超光學顯微鏡,能夠揭示納米級别的細節。以下是詳細解釋:
電子顯微鏡通過發射高能電子束穿透或掃描樣品,根據電子與樣品相互作用産生的信號(如二次電子、背散射電子等)形成圖像。其核心優勢在于:
透射電子顯微鏡(TEM)
掃描電子顯微鏡(SEM)
權威參考文獻來源:
Electron Microscope(電子顯微鏡) 是一種利用電子束而非可見光來觀察樣品微觀結構的高分辨率成像設備。其原理和功能如下:
電子顯微鏡通過發射高能電子束穿透或掃描樣品表面,利用電子與樣品的相互作用(如散射、吸收、二次電子發射等)生成圖像。由于電子的波長比可見光短得多(約0.005 nm),其分辨率可達0.1 nm級别,遠超光學顯微鏡(約200 nm)。
透射電子顯微鏡(TEM)
電子束穿透超薄樣品(通常<100 nm),通過檢測透射電子形成内部結構的高分辨率圖像,適用于材料晶體結構、生物細胞器等研究。
掃描電子顯微鏡(SEM)
電子束掃描樣品表面,通過收集二次電子或背散射電子生成表面三維形貌圖像,常用于觀察材料斷面、納米顆粒等。
首台透射電鏡由德國科學家Ruska和Knoll于1931年發明,1986年Ruska因此獲諾貝爾物理學獎。現代電鏡已發展出環境掃描電鏡(ESEM)、冷凍電鏡(Cryo-EM)等分支,進一步擴展了應用場景。
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