英:/'bɪst/
n. 阿拉伯學者
Gary Bist is a Staff Technical Writer at IBM's Toronto Lab.
Gary Bist是IBM多倫多實驗室的專職技術作家。
Absrtact: Novel BIST scheme for SOC was presented in this paper.
摘要：文中提出了一種新颍的SOC芯片BIST方案。
In this thesis, we research on scan-based BIST techniques of digital systems.
本論文對數字系統基于掃描的BIST技術進行了深入研究。
SRAM BIST is also combined with ARM core's boundary scan testing during system level DFT.
系統級可測性設計主要是将存儲器BIST與ARM核的邊界掃描測試相結合。
The proposed BIST scheme relies on a pseudo-random testing phase and a deterministic phase.
這一自測試策略包含僞隨機測試階段和确定性測試階段。
"Bist"是德語動詞"sein"（相當于英語的"be"）的第二人稱單數現在時形式，主要用于非正式場合。作為德語核心動詞之一，它在句子中承擔着連接主語與表語的功能，例如："Du bist mein Freund"（你是我的朋友）。該詞屬于不規則動詞變位體系，其變位形式為：ich bin（我是）、du bist（你是）、er/sie/es ist（他/她/它是）。
在技術領域，BIST可能指代"内置自測試"（Built-In Self Test），這是集成電路中用于自我診斷的常見技術，通過嵌入式電路實現芯片功能的自動檢測。但作為語言詞彙解釋時，其核心含義仍以德語語法功能為主。
從語言學演變角度分析，"bist"源自古高地德語"bistu"，經過中古德語時期語音簡化形成現代形式。德國語言協會指出，該詞在日常對話中的使用頻率位居德語動詞前20名，體現了其在基礎交流中的重要性。
參考資料：
“bist”的含義需結合不同語境和語言背景理解，主要分為以下三種情況：
在德語中，“bist”是動詞sein（相當于英語的“to be”）的第二人稱單數現在時變位，意為“你是”。例如：
在電子工程領域，BIST是Built-In Self-Test（内建自測試）的縮寫，指集成電路中嵌入的自我檢測功能，用于提高芯片測試效率。例如：
若在技術文檔中遇到“BIST”，通常指内建自測試；若在德語文本中，則為動詞變位。其他含義需結合具體上下文判斷。
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