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Auger electron spectroscopy是什麼意思，Auger electron spectroscopy的意思翻譯、用法、同義詞、例句

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常用詞典

  • [物] 俄歇電子能譜學

    • 例句

  • The surface defects of silver coins was analysed with auger electron spectroscopy (AES), Scanning electronic microscope (SEM) and energy dispersive spectrum (EDS).

    采用掃描電鏡、能量色散譜和俄歇電子能譜檢測方法，對銀币表面缺陷進行了分析。

  • The characteristics of the electron_injected film were analyzed and discussed, in terms of the microstructure analyses in the film with the Auger electron spectroscopy and the infrared spectrum.

    結合俄歇電子能譜和紅外光譜分析膜的微觀結構，對薄膜的電子注入特性進行了理論分析與讨論。

  • Auger electron spectroscopy(AES) and X ray photoelectron spectroscopy(XPS) are employed to study the synergistic mechanism.

    采用俄歇電子能譜（AES）和X射線光電子能譜（XPS）研究其協合潤滑機理。

  • Microstructures of thin films are characterized by X-ray Diffraction (XRD) and auger Electron spectroscopy (AES).

    通過X射線衍射（XRD）和俄歇電子能譜（AES）分析研究了薄膜的微結構；

  • The heated oxidation film of U-Nb alloy is stu***d by auger electron spectroscopy (AES) at different temperature in the high vacuum chamber.

    用俄歇電子能譜（AES）研究了高真空下，環境溫度對鈾铌合金真空氧化膜的影響。

  • Auger electron spectroscopy (AES), scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) are used to analyze component and surface morphology of the films.

    用俄歇電子能譜（AES）、掃描電鏡（SEM）和原子力顯微鏡（AFM）對薄膜的組成成分和表面形貌進行了分析。

  • Process of Al thin film growth and its interaction with UO2 were investigated by auger electron spectroscopy(AES) and electron energy loss spectroscopy(EELS).

    沉積過程中實時采集UO2表面的AES譜和低能電子損失譜（EELS），原位分析鋁薄膜在UO2表面的生長過程和膜間界面反應。

  • The composition of surface layer of uranium and treated uranium have been analyzed respectively by Auger Electron Spectroscopy (AES).

    用俄歇電子譜（AES）分析了鈾試樣處理前後表層的成分變化。

  • This conclusion is supported by Auger electron spectroscopy data, which show a chromium uptake in the outer layers of the immersed films.

    這一結論得到了俄歇電子能譜分析的佐證，因為在浸泡過的膜的外層發現有鉻的存在。

  • The composition of the implanted layer was analysed with Auger electron spectroscopy.

    用俄歇能譜儀對注入層的成分進行了分析。

  • Auger electron spectroscopy;

    俄歇電子譜；

  • The initial oxidation of pure iron and implanted samples which were overlapped energy ion–implanted with C ions was stu***d by auger electron spectroscopy (AES).

    用俄歇電子能譜 （AES）研究高真空室中純鐵和多能量疊加注碳純鐵表面與氧氣吸附及初始氧化過程。

  • The component of the films was analyzed by Auger Electron Spectroscopy (AES).

    用俄歇能譜儀分析了非連續多層膜的成份；

  • Auger Electron Spectroscopy was used to study the wear prevention mechanism of Mo9081 additive.

    并用俄歇電子能譜研究該钼型減摩劑的減摩機理。

    • 專業解析

    Auger電子能譜（Auger Electron Spectroscopy, AES）是一種利用俄歇效應（Auger effect）對材料表面（通常1-10納米深度）進行元素組成和化學态分析的表面敏感分析技術。其核心原理涉及原子内層電子躍遷過程中釋放的特征能量電子。

    核心原理：俄歇過程

    1. 激發： 使用高能電子束（通常1-10 keV）轟擊樣品表面。入射電子會将樣品原子内殼層（如K層）的一個電子擊出，留下一個空穴，使原子處于激發态。
    2. 退激發： 激發态原子通過釋放能量回到穩定态。一種重要的退激方式就是俄歇過程：外層（如L層）的一個電子躍遷到内層空穴（K層），同時釋放的能量不是以X光光子的形式發射出去，而是傳遞給另一個外層（如L層）電子，使其克服結合能而發射出來。這個被發射出來的電子就是俄歇電子。
    3. 特征能量： 俄歇電子的動能具有特征性，它主要取決于發生俄歇過程的三個能級（如KLL過程涉及K、L、L能級），而能級位置由元素的原子序數決定。因此，測量俄歇電子的動能可以識别樣品表面的元素種類。
    4. 化學态信息： 俄歇電子的動能不僅取決于元素種類，還受到該元素周圍化學環境（化學鍵合狀态、價态）的影響，導緻俄歇峰的能量位置和形狀發生微小變化（化學位移），這提供了表面化學态的信息。

    儀器構成與工作方式 典型的AES系統包含：

    1. 電子槍： 産生聚焦的高能入射電子束，可進行點分析或掃描成像（掃描俄歇顯微術，SAM）。
    2. 電子能量分析器： 最常用的是筒鏡分析器（Cylindrical Mirror Analyzer, CMA），用于按能量過濾和測量從樣品表面發射出的俄歇電子。
    3. 檢測器： 測量通過分析器的電子強度。
    4. 超高真空系統： 維持樣品室超高真空（通常<10^{-8} Torr），防止表面污染，确保測量的是樣品本征信息。
    5. 樣品台和濺射離子槍： 樣品台用于定位樣品；離子槍用于濺射蝕刻樣品表面，進行深度剖析（Depth Profiling），獲得元素組成隨深度的變化信息。

    主要特點與應用

    1. 表面靈敏度高： 信息深度僅幾個原子層（1-10 nm），是真正的表面分析技術。
    2. 元素分析： 可檢測除H、He以外的所有元素（因為俄歇過程至少需要三個電子參與）。
    3. 半定量分析： 結合标準樣品或靈敏度因子，可進行元素的半定量分析。
    4. 化學态分析： 通過俄歇峰形和位移分析可獲得表面元素的化學态信息。
    5. 微區分析： 現代AES具有高空間分辨率（可達10 nm量級），可進行微小區域（點、線、面）的成分分析。
    6. 深度剖析： 結合氩離子濺射，可逐層剝離表面并分析，獲得元素濃度隨深度的分布圖。
    7. 應用領域廣泛： 在材料科學、半導體工業、薄膜技術、催化研究、腐蝕科學、失效分析等領域有重要應用，用于研究表面偏析、界面擴散、氧化、污染、薄膜成分與均勻性、器件失效機理等。

    總結 Auger電子能譜（AES）是一種基于俄歇電子發射原理的表面分析技術。它利用高能電子束激發樣品表面原子，通過測量特征能量的俄歇電子來識别表面元素組成，并結合峰形變化分析化學态。其超高表面靈敏度、微區分析能力和深度剖析功能使其成為研究材料表面和界面物理化學性質的強有力工具。

    參考資料：

    1. 美國國家标準與技術研究院 (NIST) - Surface Science Spectra Database: 提供AES原理和應用概述（https://srdata.nist.gov/ssd/Techniques/AES.aspx）。
    2. Physical Electronics (PHI) - AES技術簡介: 儀器制造商提供的技術白皮書，詳細解釋AES原理、儀器和應用（https://www.phi.com/surface-analysis-techniques/auger-electron-spectroscopy.html）。
    3. ScienceDirect - Auger Electron Spectroscopy: 權威科學數據庫中的綜述條目，涵蓋基本原理、儀器和應用（https://www.sciencedirect.com/topics/chemistry/auger-electron-spectroscopy）。
    4. 《Surface Analysis: The Principal Techniques》 (John C. Vickerman, Ian S. Gilmore 編著): 經典表面分析教材，包含AES章節。
    5. 《Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy》 (D. Briggs, M. P. Seah 編著): AES和XPS領域的權威參考書。

    網絡擴展資料

    Auger電子能譜（Auger Electron Spectroscopy，簡稱AES）是一種用于材料表面分析的先進技術，主要通過檢測俄歇電子的能量和數量來獲取樣品表面的元素組成及化學狀态信息。以下是其核心要點：

    1. 基本原理
      當高能電子束轟擊樣品表面時，原子内層電子被激發電離形成空位，外層電子躍遷填補空位并釋放能量。若該能量被另一外層電子吸收并使其逸出，則形成俄歇電子。俄歇電子的能量具有元素特異性，因此可通過分析其能譜實現元素識别。

    2. 技術特點

      • 高表面靈敏度：分析深度僅0-3納米，適用于極表層成分檢測。
      • 高空間分辨率：最小可達6納米，支持微區成分分析。
      • 元素覆蓋廣：可檢測元素周期表中氦（He）之後的所有元素。

    3. 應用領域
      主要用于材料科學、半導體工業和表面化學研究，例如薄膜厚度測量、表面污染分析及界面化學反應監測。

    4. 儀器組成
      核心部件包括電子槍（激發源）、能量分析器（檢測俄歇電子能量）和信號處理系統。

    補充說明：AES無法檢測氫和氦元素，且對絕緣樣品分析存在挑戰。若需更詳細技術參數或案例，可參考表面分析領域的專業文獻或儀器手冊。

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